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分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]

印刷用ページを表示する 更新日:2024年2月27日更新
設備利用
依頼試験機器利用
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

分解能: 3 nm(2次電子像、高真空モード)
倍率: 5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器: エネルギー分散形(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで

用途
微小部分観察、元素分析
製造者
日本電子株式会社
型番
JSM-6490LA, JED-2300
導入年度
2008
設置場所
本部
グループ
計測分析技術グループ
試験規格対応
備考

機器利用ライセンス制度対象機器(機器利用のご案内はこちら [PDFファイル/161KB]

  • 材料・製品について、表面形状を観察したり、構成元素を分析したりすることができます。
  • 導電性のない試料の観察・分析のため、コーティング装置(金・白金・炭素)を用意しています。
    (低真空モードを用いることで、コーティングなしで観察・分析できる場合もあります)
  • 光学顕微鏡に比べて、焦点深度が深いのが特徴です。
  • 最大で直径20cmのものまで入れることができる大型試料室を備えています。小さく切断することができない試料にも対応可能です。
  • セミナー(3時間)を受けてライセンスを取得した方のみ、ご利用可能です。
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 18,100円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,410円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 13,610円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 26,000円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 基本料[1時間につき] S31711 3,560円 7,130円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 追加料[1時間につき] S31712 1,550円 3,100円
機器利用 0.1.1. 機器利用指導 [30分につき] M11 1,130円 2,260円
機器利用 0.3.1. 光学式記録メディア CD又はDVD <消耗品> [1枚につき] M3S 50円 50円

走査電子顕微鏡4

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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