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H:放射線

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  • Ge半導体検出器 [計測分析技術G]

    設置場所
    本部
    計測分析技術グループ
    用途
    核種分析、環境放射能測定
    依頼試験機器利用でない
  • セシウム137ガンマ線照射装置 [計測分析技術G]

    設置場所
    本部
    計測分析技術グループ
    用途
    高分子・半導体照射、生物照射、照射食品検知、滅菌・殺菌、透過試験など
    依頼試験機器利用でない
  • 液体シンチレーション測定装置 [計測分析技術G]

    設置場所
    本部
    計測分析技術グループ
    用途
    ラドン、炭素-14などのベータ線を放出する核種の測定に用いられています。 ラドン温泉のラドン濃度測定、バイオ燃料由来の炭素-14測定、バイオエチレン グリコール中の炭素-14測定などを測定しています。
    依頼試験機器利用でない
  • 低エネルギー電子加速器

    設置場所
    本部
    計測分析技術グループ
    用途
    高分子、オリゴマーの架橋、重合、グラフト重合反応を利用しコーティング、ラミネート、印刷、粘着剤・剥離剤や吸着材、抗菌剤の開発、殺菌・滅菌、殺虫等処理に用います。
    依頼試験でない機器利用

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