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透過電子顕微鏡
印刷用ページを表示する 更新日：2023年10月24日更新
- 分類
- C：顕微鏡：その他
- 対象
- 仕様
加速電圧：最大300 kV、ショットキー電界放出電子銃、EDX、エネルギーフィルター付属
- 用途
- 材料の微細組織観察（TEM/STEM観察）
- 製造者
- FEI COMPANY
- 型番
- Titan Cubed G2 60-300
- 導入年度
- 2011
- 設置場所
- 本部
- グループ
- 計測分析技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T633111 | 16,860円 | 33,580円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T633121 | 9,990円 | 20,580円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T633211 | 11,860円 | 23,720円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1試料1時間につき] | T633311 | 19,950円 | 46,470円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの（同一試料の追加） [1時間につき] | T633312 | 17,550円 | 35,100円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 試料作製 分散法・ふりかけ法によるもの [1試料につき] | T63341S | 3,560円 | 6,130円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 試料作製 集束イオンビームによる薄片試料の作製 [1箇所1時間につき] | T63342S | 28,290円 | 48,660円 |
| 依頼試験 | 6.1.21. | 透過電子顕微鏡によるもの 試料作製 集束イオンビームによる薄片試料の作製（同一箇所の追加） [1時間につき] | T63343S | 13,580円 | 27,160円 |
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