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高周波

印刷用ページを表示する　更新日：2024年3月18日更新

電磁環境両立性（EMC）技術、電子回路・機器の設計・試作等に関する試験・研究・相談を行っています。

主な設備・機器

※ ご利用にあたっては、「技術支援事業ご利用約款」をご確認ください。

※ ご利用方法・ご利用料金は、依頼試験ページまたは、機器利用ページにてご確認ください。

※ 以下の各種機器についてメールでのお問い合わせを希望される場合は、次のアドレスまでお願いいたします。

  • aomi_emc"at"iri-tokyo.jp ("at"を@に置き換えてください)

EMC試験

ご予約方法

EMC機器利用空き状況の確認はこちら！（試験運用中）

お電話での日程調整後、予約表を電子メールにて送信ください。予約表の書式と送信先は下表のとおりです（一部の設備は予約表の対象外）。

EMC予約
項目機器利用依頼試験
WORDPDFWORDPDF
書式kiki2403_w [Wordファイル／69KB]kiki2403_p [PDFファイル／317KB]irai2312_w [Wordファイル／282KB]irai2312_p [PDFファイル／505KB]
送信先aomi_emc"at"iri-tokyo.jp ("at"を@に置き換えてください)

 

設備紹介

EMC設備
設備依頼試験機器利用説明
3m法電波暗室--電磁波的な半無響室（5面の電波暗室）
放射エミッション測定MHz帯○○電子機器から空間に放射される不要な電波の測定
GHz帯○○
雑音端子電圧測定×○電子機器から電源ケーブルを伝わって放出されるノイズの測定
雑音電力測定×○電子機器のノイズを電源ケーブルに吸収クランプ法を用いて測定
放射イミュニティ試験MHz帯○○電子機器がノイズに対してどの程度の耐性をもつか調べる試験
GHz帯○○
防音シールド室×○電磁波的な遮蔽室。ノイズ対策を低コストで効率的に実施。

アンテナ評価

ご予約方法

お電話での日程調整後、予約表を電子メールにて送信ください。予約表の書式と送信先は下表のとおりです

アンテナ評価用設備
設備依頼試験機器利用説明
アンテナ室×○電磁波的な無響室（6面の電波暗室）
マイクロ波帯アンテナ測定システム（3 GHz未満）×○アンテナの利得, 放射パターン, VSWRなどを評価
マイクロ波帯アンテナ測定システム（50 GHz未満）×○
ミリ波帯アンテナ測定システム（75 GHz未満）×○

周波数ドメイン測定

ネットワークアナライザ

ネットワークアナライザ設備
分類設備校正面のコネクター (※)型式周波数依頼試験機器利用説明
本体ネットワークアナライザType-NE5071C9 kHz～6.5 GHz×○sパラメータ測定
75ΩネットワークアナライザType-N (75Ω)E5062A300 kHz～3 GHz×○75Ω系のsパラメータ測定
マイクロ波帯ベクトルネットワークアナライザ3.5 mmN5242A10 MHz～26.5 GHz×○マイクロ波帯のsパラメータ測定
ミリ波帯ベクトルネットワークアナライザ1.85 mm (V)N5247B10 MHz～67 GHz×○ミリ波帯のsパラメータ測定
プローブステーションやテストフィクスチャーのご利用も可能です。
周波数拡張モジュール

周波数エクステンダー/1mm同軸コネクター

1.0 mm (W)N5295AX5310 MHz～120 GHz×○

ミリ波帯ベクトルネットワークアナライザと併せてのご利用となります。

※ 測定機側の規格を示しており、極性はすべてプラグ（オス）となります。接続に変換アダプターが必要な場合はご用意ください（測定結果にアダプターの特性が含まれます）。

 

スペクトラムアナライザ

スペクトラムアナライザ設備
設備型式周波数依頼試験機器利用説明
シグナルアナライザN9010A9 kHz～26.5 GHz×○高度な変調解析も可能
位相雑音測定装置N9030A3 Hz～13.6 GHz×○位相雑音測定オプション（N9068A）を搭載
ミリ波スペクトラムアナライザFSW672 Hz～67 GHz×○雑音指数の測定も可能

 

インピーダンスアナライザ

インピーダンスアナライザ設備
設備型式周波数依頼試験機器利用説明
インピーダンスアナライザ4294A40 Hz～110 MHz×○電子部品のインピーダンス特性（周波数特性）の測定
LCRメータE4980A20 Hz～2 MHz×○電子部品の部品定数の測定

その他の機器

その他の機器
種別機器依頼試験機器利用説明
材料評価電磁波シールド材評価（KEC法）×○シールド特性の評価
電磁波シールド材評価（同軸管法）×○同軸管法 [PDFファイル／355KB]
同軸型誘電率評価システム×○誘電体材料の評価
半導体評価半導体パラメータアナライザ×○デバイス、材料、半導体、パッシブ/アクティブコンポーネントなどの電気特性評価
オシロスコープデジタルオシロスコープ×○アナログ帯域幅3 GHzのオシロスコープ
タイムドメイン測定器（TDR）×○距離方向のインピーダンス測定
複合機能付デジタルオシロスコープ×○オシロスコープの機能とスペクトラムアナライザの機能を内蔵
高精度測定ハイレジスタンスメータ×○絶縁材料などの絶縁抵抗測定
デジタルマルチメータ×○電圧、電流、抵抗の精密測定
エレクトロニックカウンタ×○周波数や周期の精密測定
波形出力ファンクションジェネレータ×○各種波形の生成
電源直流安定化電源×○直流電源
交流安定化電源×○交流電源
基板加工プリント配線板試作装置×○プリント基板の試作

この他にも様々な設備・機器があります。ご利用、ご質問などお気軽にご相談下さい。

研究

過去の主な研究

  • 90 GHz帯アプリケーション用周波数変換器の開発（平成27年度 基盤研究）
  • IEEE 802.11ad評価システム用アップコンバータの製品化の為のプロトタイプ化（平成27年度 共同研究）
  • オシロスコープへ接続する超広帯域ミリ波ハーモニック・ミキサーの製品化（平成26年度 共同研究）
  • Xバンドレーダ用入力制限器の開発（平成25年度 共同研究）
  • 呼吸・心拍の非接触モニタリングシステムの開発（平成23年度，24年度，25年度 都市課題解決のための技術戦略プログラム）
  • セラミックスを用いたガス電子増幅器用孔 あき電極の開発（平成26年度 共同研究）

相談

  • EMCに関する規格（VCCI、電気用品安全法、CISPR規格等）について知りたい。
  • 製品のノイズ対策、測定法に関して知りたい。
  • 電子回路・機器を試作してみたい。
  • 電子回路・機器の信頼性試験や環境試験について知りたい。

 

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