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English 機器利用可能
本部
本部半導体パラメータアナライザ
最終更新日2024年10月28日
用途
デバイス、材料、半導体、パッシブ/アクティブコンポーネントなどの電気特性評価
仕様
機能： I-V特性、C-V特性、パルスドI-V特性評価、インピーダンスアナライザ4294Aとの組み合わせによるインピーダンス測定
< スロット構成 >
- B1500Aメインフレーム（GNDU+ADC）
- B1510A高電力ソース/モニタ・ユニット（HPSMU）x2units
（Max ±200V, ±1A, 20W） - B1517A高分解能ソース/モニタ・ユニット（HRSMU）x2units
（Max ±100V, ±100mA, 2W） - B1514A 50 s パルス・ミディアム電流ソース/メジャメント・ユニット(MCSMU)
< アクセサリ >
- 16442Bテストフィクスチャ
機器概要
- 分類
- E：電気計測・電気安全：材料・インピーダンス測定
- 担当部署
- 通信技術グループ
- 導入年度
- 2010
- 型番
- B1500A
- 製造者
- キーサイト・テクノロジー
- 対応試験規格
- 備考
お客様ご自身で操作可能な機器利用としてご利用いただけます。
操作方法が分からない方は担当職員にご相談ください。
料金表
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|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 機器利用 | （31）半導体パラメータアナライザ [1時間につき] | S84411 | 360円 | 720円 |
03-5530-2540
