主な設備・機器

電磁環境両立性(EMC)技術、電子回路・機器の設計・試作等に関する試験・研究・相談を行っています。

※ ご利用にあたっては、「技術支援事業ご利用約款」をご確認ください。

※ ご利用方法・ご利用料金は、依頼試験ページまたは、機器利用ページにてご確認ください。

※ 以下の各種機器についてメールでのお問い合わせを希望される場合は、次のアドレスまでお願いいたします。

  • aomi_emc"at"iri-tokyo.jp ("at"を@に置き換えてください)

EMC試験

ご予約方法

EMC機器利用空き状況の確認はこちら!(試験運用中)[PDF]

お電話での日程調整後、予約表を電子メールにて送信ください。予約表の書式と送信先は下表のとおりです(一部の設備は予約表の対象外)。

機器利用予約表[WORD]
機器利用予約表[PDF]
依頼試験予約表[WORD]
依頼試験予約表[PDF] 

送信先: aomi_emc"at"iri-tokyo.jp ("at"を@に置き換えてください)

 

設備紹介

EMC設備

設備

依頼試験

機器利用

説明

3m法電波暗室--電磁波的な半無響室(5面の電波暗室)
放射エミッション測定MHz帯電子機器から空間に放射される不要な電波の測定
GHz帯
雑音端子電圧測定×電子機器から電源ケーブルを伝わって放出されるノイズの測定
雑音電力測定×電子機器のノイズを電源ケーブルに吸収クランプ法を用いて測定
放射イミュニティ試験MHz帯電子機器がノイズに対してどの程度の耐性をもつか調べる試験
GHz帯
防音シールド室×電磁波的な遮蔽室。ノイズ対策を低コストで効率的に実施。

アンテナ評価

ご予約方法

お電話での日程調整後、予約表を電子メールにて送信ください。予約表の書式と送信先は下表のとおりです

予約表書式: 2405a_w [Word], 2405a_p [PDF]
送信先: aomi_emc"at"iri-tokyo.jp ("at"を@に置き換えてください)

アンテナ評価用設備

設備

依頼試験

機器利用

説明

アンテナ室×電磁波的な無響室(6面の電波暗室)
マイクロ波帯アンテナ測定システム(3 GHz未満)×アンテナの利得, 放射パターン, VSWRなどを評価
マイクロ波帯アンテナ測定システム(50 GHz未満)×
ミリ波帯アンテナ測定システム(75 GHz未満)×

周波数ドメイン測定

ネットワークアナライザ

分類

設備

校正面の

コネクター (※)

型式

周波数

依頼
試験

機器
利用

本体ネットワークアナライザType-NE5071C9 kHz~6.5 GHz×
75ΩネットワークアナライザType-N (75Ω)E5062A300 kHz~3 GHz×
マイクロ波帯ベクトルネットワークアナライザ3.5 mmN5242A10 MHz~26.5 GHz×
ミリ波帯ベクトルネットワークアナライザ1.85 mm (V)N5247B10 MHz~67 GHz×
周波数拡張モジュール周波数エクステンダー/1mm同軸コネクター1.0 mm (W)N5295AX5310 MHz~120 GHz×
接続オプションプローブステーション-EPS150MMW-×
テストフィクスチャー-3680VDC~60 GHz×

※ 測定機側の規格を示しており、極性はすべてプラグ(オス)となります。接続に変換アダプターが必要な場合はご用意ください(測定結果にアダプターの特性が含まれます)。

スペクトラムアナライザ

スペクトラムアナライザ設備

設備

型式

周波数

依頼試験

機器利用

説明

シグナルアナライザN9010A9 kHz~26.5 GHz×高度な変調解析も可能
位相雑音測定装置N9030A3 Hz~13.6 GHz×位相雑音測定オプション(N9068A)を搭載
ミリ波スペクトラムアナライザFSW672 Hz~67 GHz×雑音指数の測定も可能

インピーダンスアナライザ

インピーダンスアナライザ設備

設備

型式

周波数

依頼試験

機器利用

説明

インピーダンスアナライザ4294A40 Hz~110 MHz×電子部品のインピーダンス特性(周波数特性)の測定
LCRメータE4980A20 Hz~2 MHz×電子部品の部品定数の測定

その他の機器

その他の機器

種別機器依頼試験機器利用説明
材料評価電磁波シールド材評価(KEC法)×シールド特性の評価
電磁波シールド材評価(同軸管法)×同軸管法 [PDF]
同軸型誘電率評価システム×誘電体材料の評価
半導体評価半導体パラメータアナライザ×デバイス、材料、半導体、パッシブ/アクティブコンポーネントなどの電気特性評価
オシロスコープデジタルオシロスコープ×アナログ帯域幅3 GHzのオシロスコープ
タイムドメイン測定器(TDR)×距離方向のインピーダンス測定
複合機能付デジタルオシロスコープ×オシロスコープの機能とスペクトラムアナライザの機能を内蔵
高精度測定ハイレジスタンスメータ×絶縁材料などの絶縁抵抗測定
デジタルマルチメータ×電圧、電流、抵抗の精密測定
エレクトロニックカウンタ×周波数や周期の精密測定
波形出力ファンクションジェネレータ×各種波形の生成
電源直流安定化電源×直流電源
交流安定化電源×交流電源
基板加工プリント配線板試作装置×プリント基板の試作
ソフトウェア高周波回路設計ツール××オーダーメード型技術支援により、回路解析や電磁界解析を実施

この他にも様々な設備・機器があります。ご利用、ご質問などお気軽にご相談下さい。

研究

過去の主な研究

  • 90 GHz帯アプリケーション用周波数変換器の開発(平成27年度 基盤研究)
  • IEEE 802.11ad評価システム用アップコンバータの製品化の為のプロトタイプ化(平成27年度 共同研究)
  • オシロスコープへ接続する超広帯域ミリ波ハーモニック・ミキサーの製品化(平成26年度 共同研究)
  • Xバンドレーダ用入力制限器の開発(平成25年度 共同研究)
  • 呼吸・心拍の非接触モニタリングシステムの開発(平成23年度,24年度,25年度 都市課題解決のための技術戦略プログラム)
  • セラミックスを用いたガス電子増幅器用孔 あき電極の開発(平成26年度 共同研究)

相談

  • EMCに関する規格(VCCI、電気用品安全法、CISPR規格等)について知りたい。
  • 製品のノイズ対策、測定法に関して知りたい。
  • 電子回路・機器を試作してみたい。
  • 電子回路・機器の信頼性試験や環境試験について知りたい。

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