電子線描画装置/ELS-BODEN_50F
最終更新日2026年8月5日

電子線描画装置の外観
- 用途
電子線リソグラフィによるナノメートルスケールの微細加工
- 仕様
■電子銃:電界放出型(TFT型)
■加速電圧:50kV
■ビーム電流値:0.1nA(100pA)から100nAまで
■最小電子ビーム径:φ2.0nm
■最小描画線幅:10nm
※現像後の仕上がり線幅は基板やレジストの塗布条件等に依存します。
■描画フィールドサイズ:□100µm、□250µm、□500µm、□1000µm、□1500µm
■最小ビーム位置決め分解能:0.1nm/dot(□100µmフィールド使用時)
■フィールドつなぎ精度:±15nm(□100µmフィールド使用時)
■重ね合わせ精度:±20nm(□100µmフィールド使用時)
■描画エリア:最大8インチ
■試料室真空度:4×10-4 Pa以下
■試料ステージ(3種類):
・φ2”からφ8”ウェハ(厚さ:0.25から0.78mmt)×1枚用、
・□2.5”から□7”マスク(2506,3006,4006から4009,5006から5018,6009から6015,6025,7009から7015)×1枚用、
・□10mmから□50mm小片基板(厚さ:0.5から1.5mmt)×4枚用
※基板の総重量は500g未満まで
■CADデータ形式:DXFまたはGDSⅡ
※GDSⅡ形式を推奨。DXF形式の場合は、装置専用ソフトでの変換時にエラーが発生する可能性があります。詳しくは備考欄にある「CADデータの準備について」リンク資料(PDF)をご参照ください。
■SEM観察倍率:×80倍から×500,000倍
機器概要
- 分類
- N:半導体製造・MEMS加工
- 担当部署
- 固体デバイス技術グループ
- 導入年度
- 2024
- 型番
- ELS-BODEN 50F
- 製造者
- 株式会社エリオニクス
- 備考
■本装置の特徴
・研究開発や少量試作においてスループットが向上します。
・重ね合せアライメント(オートマーク検出)機能、グレースケール描画機能も利用可能です。
・電子顕微鏡機能が備わっており、現像後試料のSEM観察・撮影や、パターン形状の測長評価も可能です。■利用事例
・微細構造パターニング(フォトマスク、ナノインプリント用モールド、トランジスタ電極、電子回路配線、光学回折素子、プラズモニックデバイス、メタサーフェス、メタレンズ、フレネルレンズ、光アンテナ、テラヘルツアンテナ、フォトニック結晶、フォトニック光導波路、モスアイ構造、構造色、機能性(撥水/親水)表面構造、マイクロ流路、ナノピラー、ナノホール、等)
・レジスト描画テスト(開発品素材の性能評価)
・高精度ステージ繫ぎ合せ機能を利用した、高倍率かつ広域のFE-SEM画像撮影■その他
・設備はクリーンルーム内にあります。
・受託技術支援にてご利用可能です。(受託技術支援)■参考資料
・電子線描画装置(TIRI NEWS:設備紹介記事)
・省エネ、高速、高感度なセンシングデバイスを微細構造で実現(技術シーズ:研究事例)
・CADデータ作成時のお願い[PDF]
・その他微細加工関連設備の情報



