主な依頼試験
・精密測定
当分野では、高精度な寸法測定、形状測定技術による精度に関わる品質評価により、技術開発および事業化に関わる支援を行います。
・JCSS校正
長さ測定の試験(一次元寸法測定器、形状測定器)では、国際規格ISO/IEC17025に準拠した品質システムに基づいた校正事業(JCSS計量法校正事業者)を実施しています。
JCSSの詳細については、「長さに関するJCSS試験サービス」をご覧ください。
※精密測定に関する代表的な試験項目を抜粋しています。「試験項目」のリンクをクリックすると詳細ページが開きます。
依頼試験(料金表) |
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(1)長さ測定 |
1. 三次元測定機による |
3.1. 高精度画像測定器による |
4.1. レーザー測長器による |
5.1. レーザー干渉計による |
7.1. 超高精度形状測定機による |
(2)形状等の測定 |
1.1. 真円度測定機による |
4.1. 白色干渉計による |
5.1. 解析機能付き白色干渉計による |
主な設備・機器
設備・機器名をクリックすると詳細ページが開きます。また設備・機器紹介のPDFにて活用事例等を紹介しています。
※これらの設備は全て依頼試験での利用になります。機器利用は行っておりません。
設備・機器 | |
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装置名称 | 特徴 |
機械部品などの長さ、角度、輪郭形状、幾何偏差などを接触式により測定 | |
加工品等の段差、傾き、表面粗さなどの表面形状を走査型白色干渉法から非接触・高精度で評価 | |
平面、球面、非球面及び曲率半径の測定をレーザーによって非接触・高精度で評価 | |
He-Neレーザー光の波長(633nm)を基準として干渉法を利用した直線変位の測定 | |
XYは画像処理、Zは画像およびレーザーを用いて測定物の寸法や形状を非接触で測定 | |
真円度、同軸度、円筒度などの幾何偏差を接触式により測定 | |
三次元座標測定機では測定することのできない小さな形状を接触式で測定 |