開催終了セミナー
本部
【リアル開催】SEM-EDSによる高分解能観察・分析
最終更新日:2024年9月14日
開催終了しました。
- 開催日
- 2024年9月13日(金曜日)
- 時間
- 9時30分から15時30分
- 参加費(税込)
- 5,100円
- 会場
本部
東京都江東区青海2-4-10
- 開催案内
お申込み前に「地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 技術支援事業ご利用約款 第1章 総論および第5章 技術セミナー・講習会」以下URLについてご承諾の上お申込みをお願いします。
開催概要
走査電子顕微鏡(SEM)は、観察対象物の表面に細く絞った電子線を照射し、反射・発生する電子を検出することによって、微細な表面構造を観察する装置です。特に、電界放出電子銃を搭載したSEM(FE-SEM)ではナノメートルオーダーの空間分解能を得られます。また、エネルギー分散形 X 線分析装置(EDS)を備えたSEMを用いると、観察箇所の定性分析(元素分析)が行えます。さらに、真空隔壁のない、いわゆるウインドウレス型のEDSでは、低エネルギーの特性X線の検出感度が良く、原子番号3のLiから定性分析が可能です。
本技術セミナーではSEM-EDSの測定原理や、試料の作製方法、測定時の留意点など、基礎的な内容から、FE-SEMやウインドウレス型EDSなど最新の技術について講義を行います。その後、講義内容の理解をより深めるため、都産技研で2024年3月に新たに導入したFE-SEMとウインドウレス型EDSを用いて観察・分析操作の実演を行います。SEM-EDSによる観察・元素分析の入門、あるいは再確認の場として、これから利用しようと興味をお持ちの方、既に利用されている方など、皆様のご参加をお待ちしています。
募集要項
- 応募資格
- 原則として、日本の法人の従業員、個人事業主または創業を予定している個人
- 定員
- 4名
- 申し込み方法
- Web申込フォームに所定事項をご記入の上、お申し込みください。
- 受講の可否
- 受講予定者には、請求書およびコンビニ払込書を郵送いたします。定員などの関係で受講をお断りする場合、電話または電子メールでご連絡いたします。
お問い合わせ先
このセミナーに関するお問い合わせは、下記までご連絡ください。
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 技術振興室 技術セミナー係
- 〒135-0064 東京都江東区青海2-4-10
- 電話: 03-5530-2308