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UVカメラシステムによる紫外域の放射輝度分布測定

公開日:2023年11月1日 最終更新日:2024年11月7日

紫外域の放射輝度分布測定(オーダーメード型技術支援)の開始

紫外光CMOSカメラとバンドパスフィルタを用いた紫外域の放射輝度分布測定を、オーダーメード型技術支援として開始しました。

通常のカメラや二次元輝度計で測定できない、深紫外線の放射輝度分布を可視化できます。紫外線利用製品の漏れ光や放射輝度ムラの測定など、性能評価にご活用頂けます。

参考料金:11,100円(中小企業料金)、22,150円(一般企業料金)

測定結果例
スマートフォンと開発したシステムでの撮影結果比較例
※同一の給電条件で紫外LEDおよび可視LED(白色)を点灯

支援・測定装置の詳細につきましては、資料をご参照ください。
UVカメラシステムによる紫外域放射輝度分布測定 [PDF]

お問い合わせ先

本件に関するお問い合わせは、下記までご連絡ください。

  • 研究開発本部 物理応用技術部 光音技術グループ担当者:照明担当電話番号:03-5530-2580 メール:shoumei@iri-tokyo.jp
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