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長さに関するJCSS試験サービス
印刷用ページを表示する 更新日:2021年7月12日更新
(地独)東京都立産業技術研究センターは、長さの区分で国際MRA対応のJCSS計量法校正事業登録制度(外部リンク)の登録認定を平成27年度6月12日に受けており、ILAC MRA付きJCSS認定シンボルの入った校正証明書を発行することができます。発行されるJCSS校正証明書は、ILACに加盟する世界中の国々で有効です。
認定範囲
校正手法の区分と呼称 | 種類 | 校正範囲 | 最高測定能力 (信頼の水準約95%) |
---|---|---|---|
一次元寸法測定器 | ノギス | 600 mm 以下 | 0.02 mm |
マイクロメータ | 25 mm 以下 | 0.5 μm | |
25 mm 超 100 mm 以下 | 2 μm | ||
ダイヤルゲージ | 5 mm 以下 | 0.7 μm | |
5 mm 超 50.8 mm 以下 | 1.6 μm | ||
50.8 mm 超 100 mm 以下 | 2.4 μm | ||
てこ式ダイヤルゲージ | 1.6 mm 以下 | 2 μm | |
シリンダゲージ | 6 mm 以上 400 mm 以下 | 1.3 μm | |
デプスゲージ | 300 mm 以下 | 0.02 mm | |
ハイトゲージ | 1000 mm 以下 | 0.014 mm | |
ダイヤルゲージ校正器 | 25 mm 以下 | 0.3 μm | |
伸び計校正器 | 25 mm 以下 | 0.3 μm | |
25 mm 超 100 mm 以下 | 0.6 μm | ||
ブロックゲージ (比較測定法による) | 0.5 mm 以上 100 mm 以下 | 0.14 μm | |
100 mm 超 250 mm 以下 | 0.28 μm | ||
各種長さ測定用校正器で測定 面が平面であるもの (比較測定法による) | 310 mm 以下 | 0.6 μm | |
310 mm 超 610 mm 以下 | 0.8 μm | ||
610 mm 超 1010 mm 以下 | 1.1 μm | ||
リングゲージ | 10 mm 以上 200 mm 以下 | 0.5 μm | |
プラグゲージ | 1 mm 以上 200 mm 以下 | 0.6 μm | |
形状測定器 | 座標測定機用ゲージ | 310 mm 以下 | 0.6 μm |
310 mm 超 1010 mm 以下 | 0.7 μm |
JCSS対応測定器の例
各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの(比較測定法による)
ステップゲージ
マイクロメータ基準棒
座標測定機用ゲージ
ホールプレート
株式会社キーエンス様 画像提供
株式会社トレサ様 画像提供
丸紅情報システムズ株式会社様 画像提供
試験料金
- 試験項目をクリックすると、料金がご確認いただけます。
- 中小企業は、一般料金から減免制度により中小企業料金でご利用いただけます。
試験項目 | 単位 |
---|---|
16.1.1.校正試験(JCSS長さ) | |
1.1. ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以下のもの | 1試料につき |
2.1. リングゲージ・プラグゲージの校正 | 1試料につき |
3.1. ダイヤルゲージの校正 | 1試料につき |
4.1. ダイヤルゲージ校正器の校正 25mm以下のもの | 1試料につき |
5.1. てこ式のダイヤルゲージの校正 1.6mm以下のもの | 1試料につき |
6.1. ノギスの校正 600mm以下のもの | 1試料につき5箇所まで |
7.1. マイクロメータの校正 100mm以下のもの | 1試料につき3箇所まで |
8.1. シリンダゲージの校正 6mm以上400mm以下のもの | 1試料につき |
9.1. デプスゲージの校正 300mm以下のもの | 1試料につき5箇所まで |
10.1. ハイトゲージの校正 1000mm以下のもの | 1試料につき10箇所まで |
11.1. 伸び計校正器の校正 100mm以下のもの | 1試料につき |
12.1. 座標測定機用ゲージの校正 | 1試料につき |
0.1.2.JCSS校正証明書の交付 | |
1.1. 正本 | 1通につき |
2.1. 副本 | 1通につき |
3.1. 副本扱い(英文) | 1通につき |