ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 実証試験技術グループ > 長さに関するJCSS試験サービス

長さに関するJCSS試験サービス

印刷用ページを表示する 更新日:2021年7月12日更新

(地独)東京都立産業技術研究センターは、長さの区分で国際MRA対応のJCSS計量法校正事業登録制度(外部リンク)の登録認定を平成27年度6月12日に受けており、ILAC MRA付きJCSS認定シンボルの入った校正証明書を発行することができます。発行されるJCSS校正証明書は、ILACに加盟する世界中の国々で有効です。

認定範囲

認定の範囲
校正手法の区分と呼称種類校正範囲最高測定能力
(信頼の水準約95%)

一次元寸法測定器

ノギス600 mm 以下0.02 mm
マイクロメータ25 mm 以下0.5 μm
25 mm 超 100 mm 以下2 μm
ダイヤルゲージ5 mm 以下0.7 μm
5 mm 超 50.8 mm 以下1.6 μm
50.8 mm 超 100 mm 以下2.4 μm
てこ式ダイヤルゲージ1.6 mm 以下2 μm
シリンダゲージ6 mm 以上 400 mm 以下1.3 μm
デプスゲージ300 mm 以下0.02 mm
ハイトゲージ1000 mm 以下0.014 mm
ダイヤルゲージ校正器25 mm 以下0.3 μm
伸び計校正器25 mm 以下0.3 μm
25 mm 超 100 mm 以下0.6 μm
ブロックゲージ
(比較測定法による)
0.5 mm 以上 100 mm 以下0.14 μm
100 mm 超 250 mm 以下0.28 μm
各種長さ測定用校正器で測定
面が平面であるもの
(比較測定法による)
310 mm 以下0.6 μm
310 mm 超 610 mm 以下0.8 μm
610 mm 超 1010 mm 以下1.1 μm
リングゲージ10 mm 以上 200 mm 以下0.5 μm
プラグゲージ1 mm 以上 200 mm 以下0.6 μm
形状測定器座標測定機用ゲージ310 mm 以下0.6 μm
310 mm 超 1010 mm 以下0.7 μm

 

JCSS対応測定器の例

各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの(比較測定法による)

 

ステップゲージの写真
ステップゲージ

マイクロメータ基準棒の写真

マイクロメータ基準棒

 

座標測定機用ゲージ

 

ホールプレートの写真
ホールプレート

株式会社キーエンス様提供座標測定器用ゲージの写真

株式会社キーエンス様 画像提供

株式会社トレサ様提供 座標測定器用ゲージの写真
株式会社トレサ様 画像提供

丸紅情報システムズ株式会社様提供 座標測定器用ゲージの写真

丸紅情報システムズ株式会社様 画像提供

 

 

試験料金

  • 試験項目をクリックすると、料金がご確認いただけます。
  • 中小企業は、一般料金から減免制度により中小企業料金でご利用いただけます。
試験料金
試験項目単位
16.1.1.校正試験(JCSS長さ)
1.1. ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以下のもの1試料につき
2.1. リングゲージ・プラグゲージの校正1試料につき
3.1. ダイヤルゲージの校正1試料につき
4.1. ダイヤルゲージ校正器の校正 25mm以下のもの1試料につき
5.1. てこ式のダイヤルゲージの校正 1.6mm以下のもの1試料につき
6.1. ノギスの校正 600mm以下のもの1試料につき5箇所まで
7.1. マイクロメータの校正 100mm以下のもの1試料につき3箇所まで
8.1. シリンダゲージの校正 6mm以上400mm以下のもの1試料につき
9.1. デプスゲージの校正 300mm以下のもの1試料につき5箇所まで
10.1. ハイトゲージの校正 1000mm以下のもの1試料につき10箇所まで
11.1. 伸び計校正器の校正 100mm以下のもの1試料につき
12.1. 座標測定機用ゲージの校正1試料につき
0.1.2.JCSS校正証明書の交付
1.1. 正本1通につき
2.1. 副本1通につき
3.1. 副本扱い(英文)1通につき

 

 


ページの先頭へ