ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 機器・設備検索 > 走査電子顕微鏡 [計測分析技術G-4]

走査電子顕微鏡 [計測分析技術G-4]

印刷用ページを表示する 更新日:2019年11月18日更新
設備利用
依頼試験機器利用
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

分解能: 3 nm(2次電子像、高真空モード)
倍率: 5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器: エネルギー分散形(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで

用途
微小部分観察、元素分析
製造者
日本電子株式会社
型番
JSM-6490LA, JED-2300
導入年度
2008
設置場所
本部
グループ
計測分析技術グループ
試験規格対応
備考

機器利用ライセンス制度対象機器

機器利用のご案内はこちら [PDFファイル/194KB]

工業材料、製品を損傷することなく、そのままの状態で表面の形状を観察することができます。光学顕微鏡や透過電子顕微鏡に比べて、焦点深度が深いのが特徴です。また、本装置は、最大で直径20cmのものまで入れることができる大型試料室を備えていますので、小さく切断することができない試料にも対応可能です。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.1. 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 16,270円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.2. 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,030円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 3.1. 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 12,650円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 4.1. 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 24,580円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 基本料[1時間につき] S31711 3,560円 7,130円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 追加料[1時間につき] S31712 1,550円 3,100円
機器利用 0.1.1. 機器利用指導 [30分につき] M11 1,130円 2,260円
機器利用 0.3.1. 光学式記録メディア(CD又はDVD <消耗品> ) <消耗品>[1枚につき] M3S 50円 50円

走査電子顕微鏡4

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

Adobe Readerダウンロードはこのリンクから(外部リンク)

PDF形式のファイルをご覧いただく場合には、Adobe社が提供するAdobe Readerが必要です。
Adobe Readerをお持ちでない方は、バナーのリンク先からダウンロードしてください。(無料)


ページの先頭へ