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X線光電子分光分析装置[複合素材技術G]
印刷用ページを表示する 更新日：2021年8月2日更新
- 分類
- A：分析・評価：機器分析
- 対象
- 金属
ガラス・セラミック
プラスチック - 仕様
励起X線：AlモノクロX線、Mg/AlデュアルアノードX線
空間分解能：1μm
エッチング：アルゴンイオン、アルゴンクラスターイオン
試料サイズ：原則として、W75mm × D32mm × H13mm以内- 用途
- 試料極表面（数nm）の元素分析、化学結合状態の分析
元素の深さ方向分析 - 製造者
- Kratos Analytical Ltd.（株式会社島津製作所）
- 型番
- KRATOS ULTRA2
- 導入年度
- 2016
- 設置場所
- 多摩テクノプラザ
- グループ
- 複合素材技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
紫外光電子分光法（UPS）による測定も可能です。
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 1.1. ワイドスキャン測定 [1測定につき] | T634111 | 17,900円 | 34,950円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 2.1. ナロースキャン測定 [1試料1時間につき] | T634211 | 18,950円 | 35,060円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 2.1. ナロースキャン測定 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634212 | 6,140円 | 12,280円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 3.1. 深さ方向分析 [1試料1時間につき] | T634311 | 22,060円 | 40,530円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 3.1. 深さ方向分析 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634312 | 6,140円 | 12,280円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 4.1. 面分析又は線分析 [1試料1時間につき] | T634411 | 18,950円 | 34,970円 |
| 依頼試験 | 6.1.22. | エックス線光電子分光分析装置によるもの 4.1. 面分析又は線分析 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634412 | 7,260円 | 14,540円 |
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