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X線光電子分光分析装置[複合素材技術G]

印刷用ページを表示する 更新日:2021年8月2日更新
設備利用
依頼試験
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
金属
ガラス・セラミック
プラスチック
仕様

励起X線:AlモノクロX線、Mg/AlデュアルアノードX線
空間分解能:1μm
エッチング:アルゴンイオン、アルゴンクラスターイオン
試料サイズ:原則として、W75mm × D32mm × H13mm以内

用途
試料極表面(数nm)の元素分析、化学結合状態の分析
元素の深さ方向分析
製造者
Kratos Analytical Ltd.(株式会社島津製作所)
型番
KRATOS ULTRA2
導入年度
2016
設置場所
多摩テクノプラザ
グループ
複合素材技術グループ
試験規格対応
備考

紫外光電子分光法(UPS)による測定も可能です。

TIRI NEWS 2016年8月号に掲載されました

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 1.1. ワイドスキャン測定 [1測定につき] T634111 17,900円 33,980円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 2.1. ナロースキャン測定 [1試料1時間につき] T634211 18,950円 34,390円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 2.1. ナロースキャン測定 (同一試料の追加) [1時間につき] T634212 6,140円 12,280円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 3.1. 深さ方向分析 [1試料1時間につき] T634311 22,060円 40,530円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 3.1. 深さ方向分析 (同一試料の追加) [1時間につき] T634312 6,140円 12,280円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 4.1. 面分析又は線分析 [1試料1時間につき] T634411 18,950円 34,390円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 4.1. 面分析又は線分析 (同一試料の追加) [1時間につき] T634412 7,260円 14,390円

X線光電子分光分析装置

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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