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X線光電子分光分析装置[複合素材技術G]

印刷用ページを表示する 更新日:2021年8月2日更新
設備利用
依頼試験
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
金属
ガラス・セラミック
プラスチック
仕様

励起X線:AlモノクロX線、Mg/AlデュアルアノードX線
空間分解能:1μm
エッチング:アルゴンイオン、アルゴンクラスターイオン
試料サイズ:原則として、W75mm × D32mm × H13mm以内

用途
試料極表面(数nm)の元素分析、化学結合状態の分析
元素の深さ方向分析
製造者
Kratos Analytical Ltd.(株式会社島津製作所)
型番
KRATOS ULTRA2
導入年度
2016
設置場所
多摩テクノプラザ
グループ
組織変更に伴う更新作業中となります。
試験規格対応
備考

紫外光電子分光法(UPS)による測定も可能です。

TIRI NEWS 2016年8月号に掲載されました

料金表については料金改定に伴う更新作業中となります。
ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
ご利用料金につきましては、機器利用一覧(料金表)依頼試験一覧(料金表)をご覧ください。

X線光電子分光分析装置

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