ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 機器・設備検索 > 走査電子顕微鏡(分析装置付)[複合素材技術G]

走査電子顕微鏡(分析装置付)[複合素材技術G]

印刷用ページを表示する 更新日:2021年8月2日更新
設備利用
依頼試験機器利用
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
金属
ガラス・セラミック
プラスチック
繊維
仕様

倍率:5倍から300000倍まで(カタログ値)
分解能:3.0nm(高真空モード、30kV)、4.0nm(低真空モード、30kV)(カタログ値)
加速電圧:0.3kVから30kVまで
試料寸法(最大):径200mm × 高さ80mm
電子銃:熱電子銃
観察像:二次電子像、反射電子像
観察雰囲気:高真空モード、低真空モード(10Paから270Paまで)
エネルギー分散型X線分光分析装置付属
測定元素:ベリリウム(Be)からウラン(U)

用途
素材や製品の形状観察、表面状態の観察
観察部位の元素分析
製造者
日本電子株式会社(走査電子顕微鏡)
サーモフィッシャーサイエンティフィック社(分析装置)
型番
JSM-6610LV(走査電子顕微鏡)
NORAN System7 312E(分析装置)
導入年度
2009
設置場所
多摩テクノプラザ
グループ
複合素材技術グループ
試験規格対応
備考

ライセンス制度対象機器
初めて機器利用される場合は利用方法習得セミナーを受講し、ライセンスを取得してください。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.1. 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 16,270円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.2. 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,030円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 3.1. 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 12,650円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 4.1. 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 24,580円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 基本料[1時間につき] S31711 3,560円 7,130円
機器利用 3.7. 分析機能付き走査電子顕微鏡 (※ライセンス制度対象機器) 追加料[1時間につき] S31712 1,550円 3,100円

走査電子顕微鏡(分析装置付)2

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

ページの先頭へ