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走査電子顕微鏡(分析装置付)[複合素材開発S]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験機器利用
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

倍率:5倍から300000倍まで(カタログ値)
分解能:3.0nm(高真空モード、30kV)、4.0nm(低真空モード、30kV)(カタログ値)
加速電圧:0.3kVから30kVまで
試料寸法(最大):径200mm × 高さ80mm
電子銃:熱電子銃
観察像:二次電子像、反射電子像
観察雰囲気:高真空モード、低真空モード(10Paから270Paまで)
エネルギー分散型X線分光分析装置付属
測定元素:ベリリウム(Be)からウラン(U)

用途
素材や製品の形状観察、表面状態の観察
観察部位の元素分析
製造者
日本電子株式会社(走査電子顕微鏡)
サーモフィッシャーサイエンティフィック社(分析装置)
型番
JSM-6610LV(走査電子顕微鏡)
NORAN System7 312E(分析装置)
導入年度
2009
設置場所
多摩テクノプラザ
グループ
複合素材開発セクター
試験規格対応
備考

ライセンス制度対象機器です。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (1) 像の観察 [1試料につき] 32B11 12,460円 14,660円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (2) 写真撮影 [1枚につき] 32B21 2,890円 3,710円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 イ.定性分析[1測定点につき] 32B31 10,260円 12,040円
機器利用 9.18. 分析機能付き走査電子顕微鏡(ライセンス制度対象機器) (1)基本料 [1時間につき] 9J1 4,270円 8,320円
機器利用 9.18. 分析機能付き走査電子顕微鏡(ライセンス制度対象機器) (2)追加料 [1時間につき] 9J2 2,120円 4,030円

走査電子顕微鏡(分析装置付)2

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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