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分析機能付き走査電子顕微鏡[多摩テクノプラザ]
印刷用ページを表示する 更新日：2022年9月5日更新
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 対象
- 金属
ガラス・セラミック
プラスチック
繊維 - 仕様
倍率：5倍から300000倍まで（カタログ値）
分解能：3.0nm（高真空モード、30kV）、4.0nm（低真空モード、30kV）（カタログ値）
加速電圧：0.3kVから30kVまで
試料寸法（最大）：径200mm × 高さ80mm
電子銃：熱電子銃
観察像：二次電子像、反射電子像
観察雰囲気：高真空モード、低真空モード（10Paから270Paまで）
エネルギー分散型X線分光分析装置付属
測定元素：ベリリウム（Be）からウラン（U）- 用途
- 素材や製品の形状観察、表面状態の観察
観察部位の元素分析 - 製造者
- 日本電子株式会社（走査電子顕微鏡）
サーモフィッシャーサイエンティフィック社（分析装置） - 型番
- JSM-6610LV（走査電子顕微鏡）
NORAN System7 312E（分析装置） - 導入年度
- 2009
- 設置場所
- 多摩テクノプラザ
- グループ
- 複合素材技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
ライセンス制度対象機器
初めて機器利用される場合は利用方法習得セミナーを受講し、ライセンスを取得してください。
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 1.1. 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 1.2. 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 3.1. 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 4.1. 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |
| 機器利用 | 3.7. | 分析機能付き走査電子顕微鏡 （※ライセンス制度対象機器） 基本料[1時間につき] | S31711 | 3,560円 | 7,130円 |
| 機器利用 | 3.7. | 分析機能付き走査電子顕微鏡 （※ライセンス制度対象機器） 追加料[1時間につき] | S31712 | 1,550円 | 3,100円 |
- 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
- ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
- 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
- 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。
