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膜厚計（蛍光X線式）［プロセス技術G-2］
印刷用ページを表示する 更新日：2019年1月18日更新
- 分類
- G：形状計測・カメラ：寸法・形状計測
- 対象
- 仕様
X線照射領域径：Φ0.03mm
検出器：半導体
検出可能元素：Al から U まで- 用途
- めっきの厚さ測定
- 製造者
- 株式会社日立ハイテクサイエンス
- 型番
- FT-150h
- 導入年度
- 2016
- 設置場所
- 本部
- グループ
- プロセス技術グループ
- 試験規格対応
-
- JIS H8501-13
- ISO 3497
- 備考
機器利用は行っておりません。
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 4.1.2. | 表面処理皮膜試験 皮膜厚さ測定 蛍光エックス線式測定 [1箇所につき] | T412141 | 2,540円 | 4,420円 |
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