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膜厚計(蛍光X線式)[プロセス技術G-2]

印刷用ページを表示する 更新日:2019年1月18日更新
設備利用
依頼試験
分類
G:形状計測・カメラ:寸法・形状計測
対象
 
仕様

X線照射領域径:Φ0.03mm
検出器:半導体
検出可能元素:Al から U まで

用途
めっきの厚さ測定
製造者
株式会社日立ハイテクサイエンス
型番
FT-150h
導入年度
2016
設置場所
本部
グループ
プロセス技術グループ
試験規格対応
  • JIS H8501-13
  • ISO 3497
備考

機器利用は行っておりません。

 

※TIRI NEWS 2017年 1月号に掲載されました

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 4.1.2. 表面処理皮膜試験 1.4. 皮膜厚さ測定 蛍光エックス線式測定 [1箇所につき] T412141 2,260円 3,790円

膜厚計(蛍光X線式)

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  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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