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電子スピン共鳴装置

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
 
仕様

磁場変調型: X-バンド空洞共振器
感度: 7.0×109スピン/0.1mT(100 kHz磁場変調,最大出力200mW時)
分解能: 2.35μT以上(100kHz 変調時、空洞共振器内 4mm×43.5mm )

用途
物質中のフリーラジカル(不対電子)の磁気的性質を利用して、分子構造についての情報を得たり、その量を測定する装置です。非破壊で時間変化の測定も可能で、ラジカルが関与する反応や材質劣化、品質保証の手段としても利用されるようになってきています
製造者
日本電子株式会社
型番
JES-FA200
導入年度
2009
設置場所
本部
グループ
計測分析技術グループ
試験規格対応
備考

温度可変装置により、室温では不安定なラジカルを液体窒素温度および低温(-170℃以上)で測定することができます。また、付属装置として、UV照射装置及び液体試料混合装置があり、OHラジカルなどの活性酸素消去能を測定することもできます。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.27. 電子スピン共鳴装置によるもの スペクトル測定 [1測定につき] T639111 13,660円 20,950円
依頼試験 6.1.27. 電子スピン共鳴装置によるもの 試料前処理 一般的なもの [1件又は1試料につき] T63921S 3,520円 5,120円
依頼試験 6.1.27. 電子スピン共鳴装置によるもの 試料前処理 特殊なもの [1件又は1試料につき] T63922S 17,630円 25,370円

電子スピン共鳴装置

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  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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