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X線光電子分光分析装置[城南支所]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
 
仕様

励起X線:Al Kα線
X線スポットサイズ:9μm から 100μm まで
エッチング:アルゴンイオン銃
試料サイズ:W75×D75×H20mm以内

用途
試料の極表面(数nm)の元素の種類やその化学結合状態が判別できます。また、深さ方向の元素分布を知ることができます。
製造者
アルバック・ファイ
型番
Quantera
導入年度
2012
設置場所
城南支所
グループ
城南支所
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 3.2.20. エックス線光電子分光分析装置によるもの (2) ワイドスキャン測定 イ.1試料[1測定につき] 32L21 17,900円 33,340円

X線光電子分光分析装置

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