走査電子顕微鏡[城南支所-2]
最終更新日2024年8月29日

用途
微小部分の観察および分析
仕様
電子源:タングステンヘアピンフィラメント
分解能:3nm(加速電圧 30kV、WD=5mm、高真空モード)
倍率:5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度)
真空度:高真空、低真空(6Pa から 270Pa まで)の2モード
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大127mm(直径)
機器概要
- 分類
- C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
- 担当部署
- 城南支所
- 導入年度
- 2006
- 型番
- S-3400N
- 製造者
- 株式会社日立ハイテク
- 対応試験規格
- 備考
料金表
設備利用 | 試験項目 | 項目コード | 適用料金(税込) | |
---|---|---|---|---|
中小 | 一般 | |||
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |