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走査電子顕微鏡[城南支所-2]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

電子源:タングステンヘアピンフィラメント
分解能:3nm(加速電圧 30kV、WD=5mm、高真空モード)
倍率:5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度)
真空度:高真空、低真空(6Pa から 270Pa まで)の2モード
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大127mm(直径)

用途
微小部分の観察および分析
製造者
株式会社日立ハイテクノロジーズ
型番
S-3400N
導入年度
2006
設置場所
城南支所
グループ
城南支所
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (1) 像の観察 [1試料につき] 32B11 12,460円 14,660円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (2) 写真撮影 [1枚につき] 32B21 2,890円 3,710円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 イ.定性分析[1測定点につき] 32B31 10,260円 12,040円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 ロ.線分析又は面分析[1測定点につき] 32B32 19,690円 23,990円

走査電子顕微鏡

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