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走査電子顕微鏡［城南支所-2］
印刷用ページを表示する 更新日：2021年8月3日更新
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 対象
- 仕様
電子源：タングステンヘアピンフィラメント
分解能：3nm（加速電圧 30kV、WD=5mm、高真空モード）
倍率：5倍 から 30万倍 まで（実用倍率数万倍程度）
真空度：高真空、低真空（6Pa から 270Pa まで）の2モード
分析検出器：エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲：5B から 92U まで
試料サイズ：最大127mm（直径）- 用途
- 微小部分の観察および分析
- 製造者
- 株式会社日立ハイテク
- 型番
- S-3400N
- 導入年度
- 2006
- 設置場所
- 城南支所
- グループ
- 城南支所
- 試験規格対応
- 備考
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |
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