城南支所

走査電子顕微鏡[城南支所-2]

最終更新日2024年8月29日

用途

微小部分の観察および分析

仕様

電子源:タングステンヘアピンフィラメント
分解能:3nm(加速電圧 30kV、WD=5mm、高真空モード)
倍率:5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度)
真空度:高真空、低真空(6Pa から 270Pa まで)の2モード
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大127mm(直径)

機器概要

分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
担当部署
城南支所
導入年度
2006
型番
S-3400N
製造者
株式会社日立ハイテク
対応試験規格
備考

料金表

設備利用

試験項目項目コード 適用料金(税込)

中小一般
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] T63211112,460円18,100円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] T6321212,890円4,410円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T6322119,100円13,610円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T63231114,960円26,000円

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