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走査電子顕微鏡［城南支所-1］
印刷用ページを表示する 更新日：2020年11月20日更新
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 対象
- 仕様
電子銃：冷陰極電界放出形電子銃
分解能：1nm（加速電圧 15kV、WD=4mm）
倍率：20倍 から 80万倍 まで（実用倍率数十万倍程度）
分析検出器：エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲：5B から 92U まで
試料サイズ：最大32mm（直径）- 用途
- 微小部分の観察および分析
- 製造者
- 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-4800
- 導入年度
- 2006
- 設置場所
- 城南支所
- グループ
- 城南支所
- 試験規格対応
- 備考
磁性体試料は、対物レンズの磁界で強く吸引され、故障の原因となりますので、本装置では観察できません。
（外部リンク）上記YouTube動画にて、走査電子顕微鏡の特徴、活用例、技術支援の様子をご覧いただけます。
※装置更新のため、依頼試験を停止いたします。
◆期間： 11月30日（月曜日）～12月末予定
◆新装置： 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (株式会社日立ハイテクRegulus8230)
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (1) 像の観察 [1試料につき] | 32B11 | 12,460円 | 14,660円 |
| 依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (2) 写真撮影 [1枚につき] | 32B21 | 2,890円 | 3,710円 |
| 依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 イ．定性分析[1測定点につき] | 32B31 | 10,260円 | 12,040円 |
| 依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 ロ．線分析又は面分析[1測定点につき] | 32B32 | 19,690円 | 23,990円 |
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