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走査電子顕微鏡[城南支所-1]

印刷用ページを表示する 更新日:2021年1月7日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

電子銃:冷陰極電界放出形電子銃
分解能:1nm(加速電圧 15kV、WD=4mm)
倍率:20倍 から 80万倍 まで(実用倍率数十万倍程度)
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大32mm(直径)

用途
微小部分の観察および分析
製造者
株式会社日立ハイテク
型番
Regulus8230
導入年度
2020
設置場所
城南支所
グループ
組織変更に伴う更新作業中となります。
試験規格対応
備考

磁性体試料は、対物レンズの磁界で強く吸引され、故障の原因となりますので、本装置では観察できません。

 

城南支所主要設備紹介(外部リンク)

上記YouTube動画にて、走査電子顕微鏡の特徴、活用例、技術支援の様子をご覧いただけます。

 

※装置の更新が完了しました。

 

 

料金表については料金改定に伴う更新作業中となります。
ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
ご利用料金につきましては、機器利用一覧(料金表)依頼試験一覧(料金表)をご覧ください。

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