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走査電子顕微鏡[城南支所-1]
印刷用ページを表示する 更新日:2020年11月20日更新
- 分類
- C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
- 対象
- 仕様
電子銃:冷陰極電界放出形電子銃
分解能:1nm(加速電圧 15kV、WD=4mm)
倍率:20倍 から 80万倍 まで(実用倍率数十万倍程度)
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大32mm(直径)- 用途
- 微小部分の観察および分析
- 製造者
- 株式会社日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-4800
- 導入年度
- 2006
- 設置場所
- 城南支所
- グループ
- 城南支所
- 試験規格対応
- 備考
磁性体試料は、対物レンズの磁界で強く吸引され、故障の原因となりますので、本装置では観察できません。
上記YouTube動画にて、走査電子顕微鏡の特徴、活用例、技術支援の様子をご覧いただけます。
※装置更新のため、依頼試験を停止いたします。
◆期間: 11月30日(月曜日)~12月末予定
◆新装置: 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (株式会社日立ハイテクRegulus8230)
設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
---|---|---|---|---|---|
依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (1) 像の観察 [1試料につき] | 32B11 | 12,460円 | 14,660円 |
依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (2) 写真撮影 [1枚につき] | 32B21 | 2,890円 | 3,710円 |
依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 イ.定性分析[1測定点につき] | 32B31 | 10,260円 | 12,040円 |
依頼試験 | 3.2.11. | 走査型電子顕微鏡によるもの (3) エネルギ分散形分光器 ロ.線分析又は面分析[1測定点につき] | 32B32 | 19,690円 | 23,990円 |
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