機器利用可能
 本部
膜厚計(蛍光X線式)[プロセス技術G-1]
最終更新日2025年10月21日

膜厚計(蛍光X線式)の外観
用途
めっきの厚さ測定
仕様
X線照射領域径 : Φ0.1mm
検出器 : 比例計数管
検出可能元素 : Ti(原子番号22) から Bi(原子番号83) まで
機器概要
- 分類
 - G:形状計測・カメラ:寸法・形状計測
 
- 担当部署
 - プロセス技術グループ
 
- 導入年度
 - 2011
 
- 型番
 - SFT-110
 
- 製造者
 - 株式会社日立ハイテクサイエンス
 
- 対応試験規格
 
- 備考
 - FP法のみ
 - 長期間機器を占有することになる機器利用はできません。
 
料金表
|  設備利用 | 試験項目 | 項目コード |  適用料金(税込) | |
|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 機器利用 | (2)蛍光X線膜厚計 [1時間につき] | S41211 | 2,920円 | 6,210円 | 
