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半導体パラメータアナライザ

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
機器利用
分類
E:電気計測・電気安全:材料・インピーダンス測定
対象
 
仕様

機能: I-V特性、C-V特性、パルスドI-V特性評価、インピーダンスアナライザ4294Aとの組み合わせによるインピーダンス測定

< スロット構成 >

  • B1500Aメインフレーム(GNDU+ADC)
  • B1510A高電力ソース/モニタ・ユニット(HPSMU)x2units
    (Max ±200V, ±1A, 20W)
  • B1517A高分解能ソース/モニタ・ユニット(HRSMU)x2units
    (Max ±100V, ±100mA, 2W)

< アクセサリ >

  • 16442Bテストフィクスチャ
用途
デバイス、材料、半導体、パッシブ/アクティブコンポーネントなどの電気特性評価
製造者
キーサイト・テクノロジー
型番
B1500A
導入年度
2010
設置場所
本部
グループ
電気電子技術グループ
試験規格対応
備考

お客様ご自身で操作可能な機器利用としてご利用いただけます。
操作方法が分からない方は担当職員にご相談ください。

※( )内は2019年10月1日からの料金
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
機器利用 2.8. 半導体パラメータアナライザ [1件1時間につき] 281

1,470円

(1,490円)

2,910円

(2,960円)

半導体パラメータアナライザ

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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