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透過電子顕微鏡

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験その他
分類
C:顕微鏡:その他
対象
 
仕様

加速電圧:最大300 kV、ショットキー電界放出電子銃、EDX、エネルギーフィルター付属

用途
材料の微細組織観察(TEM/STEM観察)
製造者
FEI COMPANY
型番
Titan Cubed G2 60-300
導入年度
2011
設置場所
本部
グループ
先端材料開発セクター
試験規格対応
備考
※( )内は2019年10月1日からの料金
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (像の観察)[1試料1測定につき] 13211

13,443円

(13,690円)

26,712円

(27,200円)

依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (観察像記録)[1視野につき] 13221

9,812円

(9,990円)

19,501円

(19,860円)

依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (EDSによるもの)定性分析[1試料1測定につき] 13231

17,845円

(18,170円)

35,578円

(36,230円)

依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (EDSによるもの)線分析または面分析[1試料1測定につき] 13232

19,594円

(19,950円)

38,972円

(39,690円)

透過電子顕微鏡

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