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透過電子顕微鏡

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験その他
分類
C:顕微鏡:その他
対象
 
仕様

加速電圧:最大300 kV、ショットキー電界放出電子銃、EDX、エネルギーフィルター付属

用途
材料の微細組織観察(TEM/STEM観察)
製造者
FEI COMPANY
型番
Titan Cubed G2 60-300
導入年度
2011
設置場所
本部
グループ
先端材料開発セクター
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (1) 像の観察 イ.1試料[1測定につき] 13211 13,690円 27,200円
依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (2) 観察像記録 [1視野につき] 13221 9,990円 19,860円
依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (3) EDSによるもの イ.定性分析の1試料[1測定につき] 13231 18,170円 36,230円
依頼試験 1.3.2. 透過型電子顕微鏡によるもの (3) EDSによるもの ロ.線分析又は面分析の1試料[1測定につき] 13232 19,950円 39,690円

透過電子顕微鏡

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