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走査電子顕微鏡[先端材料開発S-1]

印刷用ページを表示する 更新日:2017年3月3日更新
設備利用
機器利用
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

分解能: 3 nm(2次電子像、高真空モード)
倍率: 5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器: エネルギー分散形(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで

用途
微小部分観察、元素分析
製造者
日本電子株式会社
型番
JSM-6390LV, JED-2300
導入年度
2008
設置場所
本部
グループ
先端材料開発セクター
試験規格対応
備考

機器利用ライセンス制度対象機器
機器利用のご案内はこちら [PDFファイル/121KB]

工業材料、製品を損傷することなく、そのままの状態で表面の形状を観察することができます。光学顕微鏡や透過電子顕微鏡に比べて、焦点深度が深いのが特徴です。また、本装置は、エネルギー分散型X線分光器を備えているため、観察部の元素情報についても得ることができます。

※( )内は2019年10月1日からの料金
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
機器利用 9.18. 分析機能付き走査電子顕微鏡(ライセンス制度対象機器) [最初の1時間] 9J1

4,196円

(4,270円)

8,177円

(8,320円)

機器利用 9.18. 分析機能付き走査電子顕微鏡(ライセンス制度対象機器) [1時間を超え1時間ごとに] 9J2

2,088円

(2,120円)

3,960円

(4,030円)

機器利用 17.7. デザイン支援装置 光学式記録メディア(CD/DVD 1件1枚) H7C1

51円

(50円)

51円

(50円)

走査電子顕微鏡1

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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