サービス概要
(地独)東京都立産業技術研究センターは、長さの区分で国際MRA対応のJCSS計量法校正事業登録制度(外部リンク)の登録認定を平成27年度6月12日に受けており、ILAC MRA付きJCSS認定シンボルの入った校正証明書を発行することができます。発行されるJCSS校正証明書は、ILACに加盟する世界中の国々で有効です。
認定範囲
校正手法の区分と呼称 | 種類 | 校正範囲 | 最高測定能力 | |
---|---|---|---|---|
一次元寸法測定器 | ノギス | 600 mm 以下 | 0.02 mm | |
マイクロメータ | 25 mm 以下 | 0.5 μm | ||
25 mm 超 100 mm 以下 | 2 μm | |||
ダイヤルゲージ | 5 mm 以下 | 0.7 μm | ||
10 mm 以下 | 0.5 μm | |||
5 mm 超 50.8 mm 以下 | 1.4 μm | |||
50.8 mm 超 100 mm 以下 | 2.3 μm | |||
100 mm 以下 | 1.6 μm | |||
てこ式ダイヤルゲージ | 1.6 mm 以下 | 1.1 μm | ||
シリンダゲージ | 6 mm 以上 400 mm 以下 | 1.3 μm | ||
デプスゲージ | 300 mm 以下 | 0.02 mm | ||
ハイトゲージ | 1000 mm 以下 | 0.014 mm | ||
ダイヤルゲージ校正器 | 25 mm 以下 | 0.3 μm | ||
伸び計校正器 | 10 mm 以下 | 0.15 μm | ||
10 mm 超 100 mm 以下 | 0.40 μm | |||
ブロックゲージ | 0.5 mm 以上 100 mm 以下 | 0.11 μm | ||
100 mm 超 250 mm 以下 | 0.20 μm | |||
各種長さ測定用校正器で測定 | 310 mm 以下 | 0.6 μm | ||
310 mm 超 610 mm 以下 | 0.8 μm | |||
610 mm 超 1010 mm 以下 | 1.1 μm | |||
リングゲージ | 10 mm 以上 200 mm 以下 | 0.5 μm | ||
プラグゲージ | 1 mm 以上 200 mm 以下 | 0.6 μm | ||
形状測定器 | 座標測定機用ゲージ | 寸法、距離、座標又は最小二乗直径 | 200 mm 以下 | 0.3 μm |
310 mm 以下 | 0.6 μm | |||
310 mm 超 1010 mm 以下 | 0.7 μm | |||
幾何偏差 | 10 μm 以下 | 0.3 μm | ||
球 | 平均直径 | 5 mm 以上 15 mm 以下 | 0.08 μm | |
15 mm 超 30 mm 以下 | 0.09 μm |
JCSS対応測定器の例
各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの(比較測定法による)


座標測定機用ゲージ




球

上記以外の球についても対応可能です。詳しくは担当者までお問い合わせ下さい。
試験料金
- 試験項目をクリックすると、料金がご確認いただけます。
- 中小企業は、一般料金から減免制度により中小企業料金でご利用いただけます。
試験項目 | 単位 |
---|---|
16.1.1.校正試験(JCSS長さ) | |
1.1. ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以下のもの | 1試料につき |
2.1. リングゲージ・プラグゲージの校正 | 1試料につき |
3.1. ダイヤルゲージの校正 | 1試料につき |
4.1. ダイヤルゲージ校正器の校正 25mm以下のもの | 1試料につき |
5.1. てこ式のダイヤルゲージの校正 1.6mm以下のもの | 1試料につき |
6.1. ノギスの校正 600mm以下のもの | 1試料につき5箇所まで |
7.1. マイクロメータの校正 100mm以下のもの | 1試料につき3箇所まで |
8.1. シリンダゲージの校正 6mm以上400mm以下のもの | 1試料につき |
9.1. デプスゲージの校正 300mm以下のもの | 1試料につき5箇所まで |
10.1. ハイトゲージの校正 1000mm以下のもの | 1試料につき10箇所まで |
11.1. 伸び計校正器の校正 100mm以下のもの | 1試料につき |
12.1. 座標測定機用ゲージの校正 | 1試料につき |
13.1. 球の校正 30mm以下のもの | 1試料につき |
14.1. リニアゲージの校正 100mm以下のもの | 1試料につき |
0.1.2.JCSS校正証明書の交付 | |
1.1. 正本 | 1通につき |
2.1. 副本 | 1通につき |
3.1. 副本扱い(英文) | 1通につき |