サービス概要

(地独)東京都立産業技術研究センターは、長さの区分で国際MRA対応のJCSS計量法校正事業登録制度(外部リンク)の登録認定を平成27年度6月12日に受けており、ILAC MRA付きJCSS認定シンボルの入った校正証明書を発行することができます。発行されるJCSS校正証明書は、ILACに加盟する世界中の国々で有効です。

認定範囲

校正手法の区分と呼称

種類

校正範囲

最高測定能力
(信頼の水準約95%)

一次元寸法測定器

ノギス

600 mm 以下

0.02 mm

マイクロメータ

25 mm 以下

0.5 μm

25 mm 超 100 mm 以下

2 μm

ダイヤルゲージ

5 mm 以下

0.7 μm

10 mm 以下

0.5 μm

5 mm 超 50.8 mm 以下

1.4 μm

50.8 mm 超 100 mm 以下

2.3 μm

100 mm 以下

1.6 μm

てこ式ダイヤルゲージ

1.6 mm 以下

1.1 μm

シリンダゲージ

6 mm 以上 400 mm 以下

1.3 μm

デプスゲージ

300 mm 以下

0.02 mm

ハイトゲージ

1000 mm 以下

0.014 mm

ダイヤルゲージ校正器

25 mm 以下

0.3 μm

伸び計校正器

10 mm 以下

0.15 μm

10 mm 超 100 mm 以下

0.40 μm

ブロックゲージ
(比較測定法による)

0.5 mm 以上 100 mm 以下

0.11 μm

100 mm 超 250 mm 以下

0.20 μm

各種長さ測定用校正器で測定
面が平面であるもの
(比較測定法による)

310 mm 以下

0.6 μm

310 mm 超 610 mm 以下

0.8 μm

610 mm 超 1010 mm 以下

1.1 μm

リングゲージ

10 mm 以上 200 mm 以下

0.5 μm

プラグゲージ

1 mm 以上 200 mm 以下

0.6 μm

形状測定器

座標測定機用ゲージ

寸法、距離、座標又は最小二乗直径

200 mm 以下

0.3 μm

310 mm 以下

0.6 μm

310 mm 超 1010 mm 以下

0.7 μm

幾何偏差

10 μm 以下

0.3 μm

平均直径

5 mm 以上 15 mm 以下

0.08 μm

15 mm 超 30 mm 以下

0.09 μm

 JCSS対応測定器の例

各種長さ測定用校正器で測定面が平面であるもの(比較測定法による)

ステップゲージの画像
ステップゲージ
マイクロメータ基準棒の画像
マイクロメータ基準棒

座標測定機用ゲージ

ホールプレートの画像
ホールプレート
株式会社キーエンス様画像提供座標測定機用ゲージの写真
株式会社キーエンス様 画像提供
株式会社トレサ様 画像提供座標測定機用ゲージの写真
株式会社トレサ様 画像提供
丸紅情報システムズ株式会社様 画像提供座標測定機用ゲージの写真
丸紅情報システムズ株式会社様 画像提供

マスターボールの写真
マスターボール

 

上記以外の球についても対応可能です。詳しくは担当者までお問い合わせ下さい。

試験料金

  • 試験項目をクリックすると、料金がご確認いただけます。
  • 中小企業は、一般料金から減免制度により中小企業料金でご利用いただけます。
試験項目単位
16.1.1.校正試験(JCSS長さ)
1.1. ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以下のもの1試料につき
2.1. リングゲージ・プラグゲージの校正1試料につき
3.1. ダイヤルゲージの校正1試料につき
4.1. ダイヤルゲージ校正器の校正 25mm以下のもの1試料につき
5.1. てこ式のダイヤルゲージの校正 1.6mm以下のもの1試料につき
6.1. ノギスの校正 600mm以下のもの1試料につき5箇所まで
7.1. マイクロメータの校正 100mm以下のもの1試料につき3箇所まで
8.1. シリンダゲージの校正 6mm以上400mm以下のもの1試料につき
9.1. デプスゲージの校正 300mm以下のもの1試料につき5箇所まで
10.1. ハイトゲージの校正 1000mm以下のもの1試料につき10箇所まで
11.1. 伸び計校正器の校正 100mm以下のもの1試料につき
12.1. 座標測定機用ゲージの校正1試料につき
13.1. 球の校正 30mm以下のもの1試料につき
14.1. リニアゲージの校正 100mm以下のもの1試料につき
0.1.2.JCSS校正証明書の交付
1.1. 正本1通につき
2.1. 副本1通につき
3.1. 副本扱い(英文)1通につき
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