機器利用可能 本部

分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]

最終更新日2025年4月21日

用途

微小部分観察、元素分析

仕様

分解能: 3 nm(2次電子像、高真空モード)
倍率: 5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器: エネルギー分散形(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで

機器概要

分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
担当部署
計測分析技術グループ
導入年度
2008
型番
JSM-6490LA, JED-2300
製造者
日本電子株式会社
対応試験規格
備考
  • 機器利用ライセンス制度対象機器となります。セミナー(3時間)を受けてライセンスを取得した方のみ、ご利用可能です(機器利用のご案内はこちら [PDF])。
    ※受講にあたり、MicrosoftのWindowsとWordの基本的な操作ができる事が必須事項となります。
  • セミナーは毎週1回、9時~12時、または13時~16時に開催しています(曜日不定)。1日に受講可能な人数は1名です。受付は先着順です。
  • 材料・製品について、表面形状を観察したり、構成元素を分析したりすることができます。
  • 導電性のない試料の観察・分析のため、コーティング装置(金・白金・炭素)を用意しています。
    (低真空モードを用いることで、コーティングなしで観察・分析できる場合もあります)
  • 光学顕微鏡に比べて、焦点深度が深いのが特徴です。
  • 試料移動範囲
      X方向:125 mm
      Y方向:100 mm
      Z方向:ユーセントリック面移動範囲 WD5~80 mm
      傾斜:-10~+90度(試料ホルダのサイズにより傾斜制限が異なります)
      回転:360度エンドレス
  • 試料台ホルダーは、直径32、51、76 mmの三種類を用意しています。

分析機能付き走査電子顕微鏡の紹介 [PDF]

料金表

設備利用

試験項目項目コード 適用料金(税込)

中小一般
機器利用(7)分析機能付き走査電子顕微鏡 ※ライセンス制度対象機器 基本料 [1時間につき] S317113,560円7,130円
機器利用(7)分析機能付き走査電子顕微鏡 ※ライセンス制度対象機器 追加料 [1時間につき] S317121,550円3,100円
機器利用(1)機器利用指導 [30分につき] M111,130円2,260円
機器利用(3)光学式記録メディア CD又はDVD <消耗品> [1枚につき] M3S50円50円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] T63211112,460円18,100円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] T6321212,890円4,410円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T6322119,100円13,610円
依頼試験(20)走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T63231114,960円26,000円

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