機器利用可能
本部
分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]
最終更新日2025年4月21日

用途
微小部分観察、元素分析
仕様
分解能: 3 nm(2次電子像、高真空モード)
倍率: 5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器: エネルギー分散形(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで
機器概要
- 分類
- C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
- 担当部署
- 計測分析技術グループ
- 導入年度
- 2008
- 型番
- JSM-6490LA, JED-2300
- 製造者
- 日本電子株式会社
- 対応試験規格
- 備考
- 機器利用ライセンス制度対象機器となります。セミナー(3時間)を受けてライセンスを取得した方のみ、ご利用可能です(機器利用のご案内はこちら [PDF])。
※受講にあたり、MicrosoftのWindowsとWordの基本的な操作ができる事が必須事項となります。 - セミナーは毎週1回、9時~12時、または13時~16時に開催しています(曜日不定)。1日に受講可能な人数は1名です。受付は先着順です。
- 材料・製品について、表面形状を観察したり、構成元素を分析したりすることができます。
- 導電性のない試料の観察・分析のため、コーティング装置(金・白金・炭素)を用意しています。
(低真空モードを用いることで、コーティングなしで観察・分析できる場合もあります) - 光学顕微鏡に比べて、焦点深度が深いのが特徴です。
- 試料移動範囲
X方向:125 mm
Y方向:100 mm
Z方向:ユーセントリック面移動範囲 WD5~80 mm
傾斜:-10~+90度(試料ホルダのサイズにより傾斜制限が異なります)
回転:360度エンドレス - 試料台ホルダーは、直径32、51、76 mmの三種類を用意しています。
- 機器利用ライセンス制度対象機器となります。セミナー(3時間)を受けてライセンスを取得した方のみ、ご利用可能です(機器利用のご案内はこちら [PDF])。
料金表
設備利用 | 試験項目 | 項目コード | 適用料金(税込) | |
---|---|---|---|---|
中小 | 一般 | |||
機器利用 | (7)分析機能付き走査電子顕微鏡 ※ライセンス制度対象機器 基本料 [1時間につき] | S31711 | 3,560円 | 7,130円 |
機器利用 | (7)分析機能付き走査電子顕微鏡 ※ライセンス制度対象機器 追加料 [1時間につき] | S31712 | 1,550円 | 3,100円 |
機器利用 | (1)機器利用指導 [30分につき] | M11 | 1,130円 | 2,260円 |
機器利用 | (3)光学式記録メディア CD又はDVD <消耗品> [1枚につき] | M3S | 50円 | 50円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
依頼試験 | (20)走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |