'%3e%3cpath%20id='パス_332'%20data-name='パス%20332'%20d='M4,5h8.375'%20transform='translate(-4%20-3.804)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_333'%20data-name='パス%20333'%20d='M7,4c0,5.8,0,8.375.6,9.571'%20transform='translate(-3.411%20-4)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_334'%20data-name='パス%20334'%20d='M11.178,8.6c0,2.735-2.393,5.384-4.187,5.384A2.855,2.855,0,0,1,4,11.589Q4,8,7.589,8c2.393,0,5.982.682,5.982,3.418a3.75,3.75,0,0,1-2.393,3.76'%20transform='translate(-4%20-3.214)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_335'%20data-name='パス%20335'%20d='M12,21.767,16.786,11l4.786,10.767'%20transform='translate(-2.429%20-2.625)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_336'%20data-name='パス%20336'%20d='M20.318,18H12.9'%20transform='translate(-2.252%20-1.251)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3c/g%3e%3c/svg%3e){kind=small}
English 機器利用可能
多摩テクノプラザ
多摩テクノプラザ走査電子顕微鏡（簡易型）[複合素材技術G]
最終更新日2024年10月8日
用途
素材や製品の形状観察、表面状態の観察 観察部位の元素分析
仕様
倍率：15倍から100000倍まで（カタログ値）
分解能：8nm（カタログ値）
加速電圧：0.5kVから20kVまで
試料寸法（最大）：64mm
電子銃：熱電子銃
観察像：二次電子像
エネルギー分散型X線分光分析装置付属
測定元素：ほう素（B）からウラン（U）まで
機器概要
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 担当部署
- 複合素材技術グループ
- 導入年度
- 2009
- 型番
- VE-9800（走査電子顕微鏡） Apollo 10（シリコンドリフト検出器）
- 製造者
- 株式会社キーエンス（走査電子顕微鏡） アメテック株式会社（シリコンドリフト検出器）
- 対応試験規格
- 備考
実用的な倍率は10000倍程度までです。
径30mmの試料台に収まらない寸法の試料は、観察や元素分析に制約がでます。
料金表
設備利用'%3e%3cpath%20id='パス_322'%20data-name='パス%20322'%20d='M8,6.666A1.821,1.821,0,0,1,9.943,5H10.5a1.821,1.821,0,0,1,1.943,1.666,1.666,1.666,0,0,1-1.11,1.666,2.313,2.313,0,0,0-1.11,2.221'%20transform='translate(-8%20-5)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_323'%20data-name='パス%20323'%20d='M12,19v.006'%20transform='translate(-9.779%20-11.226)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3c/g%3e%3cg%20id='楕円形_100'%20data-name='楕円形%20100'%20transform='translate(2%202)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-width='1.5'%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='10'%20stroke='none'/%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='9.25'%20fill='none'/%3e%3c/g%3e%3c/svg%3e){kind=small} | 試験項目 | 項目コード | 適用料金（税込） | |
|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 機器利用 | （6）簡易型電子顕微鏡 簡易型電子顕微鏡 [1時間につき] | S31611 | 1,370円 | 2,990円 |
| 機器利用 | （6）簡易型電子顕微鏡 分析機能付き簡易型電子顕微鏡 [1時間につき] | S31621 | 1,700円 | 3,400円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |
042-500-1290
