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English 機器利用可能
本部
本部偏光イメージングシステム
最終更新日2024年8月29日
用途
各種材料の複屈折位相差と主軸方位の2次元分布計測 (画素毎の計測データを取得可能です)
仕様
複屈折位相差測定範囲：0から3000nm
視野サイズ：約4×6mmから100×136mm
画素数：384×288_pixels
測定時間：数秒から数十秒
測定波長：523nm, 543nm, 575nm
機器概要
- 分類
- A：分析・評価：物性測定
- 担当部署
- マテリアル技術グループ
- 導入年度
- 2014
- 型番
- ワイドレンジ2次元複屈折評価システムWPA-100
- 製造者
- 株式会社フォトニックラティス
- 対応試験規格
- 備考
複屈折位相差から、ガラスなどの透明材料の応力分布や歪みの面内分布を定量的に評価できます。
また、複屈折位相差と主軸は高分子の配向状態に対して敏感に変化するため、樹脂成型品の成形条件の評価などにも活用できます。
波長550nm付近の光を使って測定しますので、基本的には透明なものが測定対象となります。機器利用ご依頼の際は、ご案内[PDF]をご一読ください。
お問い合わせは、ご案内下部に記載されたメールアドレスまでお願いいたします。
料金表
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|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 機器利用 | （1）2次元複屈折評価システム [1時間につき] | S21111 | 2,600円 | 5,060円 |
03-5530-2660
