'%3e%3cpath%20id='パス_332'%20data-name='パス%20332'%20d='M4,5h8.375'%20transform='translate(-4%20-3.804)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_333'%20data-name='パス%20333'%20d='M7,4c0,5.8,0,8.375.6,9.571'%20transform='translate(-3.411%20-4)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_334'%20data-name='パス%20334'%20d='M11.178,8.6c0,2.735-2.393,5.384-4.187,5.384A2.855,2.855,0,0,1,4,11.589Q4,8,7.589,8c2.393,0,5.982.682,5.982,3.418a3.75,3.75,0,0,1-2.393,3.76'%20transform='translate(-4%20-3.214)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_335'%20data-name='パス%20335'%20d='M12,21.767,16.786,11l4.786,10.767'%20transform='translate(-2.429%20-2.625)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_336'%20data-name='パス%20336'%20d='M20.318,18H12.9'%20transform='translate(-2.252%20-1.251)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3c/g%3e%3c/svg%3e){kind=small}
English 
城南支所X線光電子分光分析装置［城南支所］
最終更新日2024年8月29日
用途
試料の極表面（数nm）の元素の種類やその化学結合状態が判別できます。また、深さ方向の元素分布を知ることができます。
仕様
励起X線：Al Kα線
X線スポットサイズ：9μm から 100μm まで
エッチング：アルゴンイオン銃
試料サイズ：W75×D75×H20mm以内
機器概要
- 分類
- A：分析・評価：機器分析
- 担当部署
- 城南支所
- 導入年度
- 2012
- 型番
- Quantera
- 製造者
- アルバック・ファイ
- 対応試験規格
- 備考
料金表
設備利用'%3e%3cpath%20id='パス_322'%20data-name='パス%20322'%20d='M8,6.666A1.821,1.821,0,0,1,9.943,5H10.5a1.821,1.821,0,0,1,1.943,1.666,1.666,1.666,0,0,1-1.11,1.666,2.313,2.313,0,0,0-1.11,2.221'%20transform='translate(-8%20-5)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_323'%20data-name='パス%20323'%20d='M12,19v.006'%20transform='translate(-9.779%20-11.226)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3c/g%3e%3cg%20id='楕円形_100'%20data-name='楕円形%20100'%20transform='translate(2%202)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-width='1.5'%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='10'%20stroke='none'/%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='9.25'%20fill='none'/%3e%3c/g%3e%3c/svg%3e){kind=small} | 試験項目 | 項目コード | 適用料金（税込） | |
|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの ワイドスキャン測定 [1測定につき] | T634111 | 17,900円 | 34,950円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの ナロースキャン測定 [1試料1時間につき] | T634211 | 18,950円 | 35,060円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの ナロースキャン測定 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634212 | 6,140円 | 12,280円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 [1試料1時間につき] | T634311 | 22,060円 | 40,530円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634312 | 6,140円 | 12,280円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの 面分析又は線分析 [1試料1時間につき] | T634411 | 18,950円 | 34,970円 |
| 依頼試験 | （22）エックス線光電子分光分析装置によるもの 面分析又は線分析 （同一試料の追加） [1時間につき] | T634412 | 7,260円 | 14,540円 |
03-3733-6233
