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English 機器利用可能
本部
本部膜厚計（蛍光X線式） ／ SFT-110
最終更新日2026年3月29日
膜厚計（蛍光X線式）の外観
- 用途
めっきの厚さ測定
- 仕様
X線照射領域径 ： Φ0.1mm
検出器 ： 比例計数管
検出可能元素 ： Ti（原子番号22） から Bi（原子番号83） まで
機器概要
- 分類
- G：形状計測・カメラ：寸法・形状計測
- 担当部署
- プロセス技術グループ
- 導入年度
- 2011
- 型番
- SFT-110
- 製造者
- 株式会社日立ハイテクサイエンス
- 備考
- FP法のみ
- 長期間機器を占有することになる機器利用はできません。
料金表
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|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
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