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English メンテナンス
本部
本部走査電子顕微鏡 ／ JSM-6610LA、JED-2300
最終更新日2026年7月23日
走査電子顕微鏡の外観
- 用途
微小部分観察、元素分析
- 仕様
分解能：3nm（2次電子像、高真空モード）
倍率：5倍 から 30万倍 まで（実用倍率数万倍程度まで）
分析検出器：エネルギー分散型（SD検出器、液体窒素レスタイプ）
検出可能元素：5B から 92U まで
エネルギー分散型エックス線（EDS）分析の受付停止（一時）のお知らせ
機器概要
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 担当部署
- プロセス技術グループ
- 導入年度
- 2012
- 型番
- JSM-6610LA、JED-2300
- 製造者
- 日本電子株式会社
料金表
設備利用'%3e%3cpath%20id='パス_322'%20data-name='パス%20322'%20d='M8,6.666A1.821,1.821,0,0,1,9.943,5H10.5a1.821,1.821,0,0,1,1.943,1.666,1.666,1.666,0,0,1-1.11,1.666,2.313,2.313,0,0,0-1.11,2.221'%20transform='translate(-8%20-5)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3cpath%20id='パス_323'%20data-name='パス%20323'%20d='M12,19v.006'%20transform='translate(-9.779%20-11.226)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-linecap='round'%20stroke-linejoin='round'%20stroke-width='1.5'/%3e%3c/g%3e%3cg%20id='楕円形_100'%20data-name='楕円形%20100'%20transform='translate(2%202)'%20fill='none'%20stroke='%23324eb3'%20stroke-width='1.5'%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='10'%20stroke='none'/%3e%3ccircle%20cx='10'%20cy='10'%20r='9.25'%20fill='none'/%3e%3c/g%3e%3c/svg%3e){kind=small} | 試験項目 | 項目コード | 適用料金（税込） | |
|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
| 依頼試験 | （20）走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |
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