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English 
本部X線回折装置
最終更新日2025年1月31日
用途
結晶性物質の同定
結晶質、非晶質の判定
仕様
X線源：封入管式Cu管球
検出器：半導体検出器 HyPix-400（0D, 1D, 2D）
測定法：
集中法光学系による測定
平行ビーム法光学系による測定
微小角入射X線回折測定（GI-XRD）
測定試料：粉末試料、塊状試料、薄膜試料
機器概要
- 分類
- A：分析・評価：機器分析
- 担当部署
- 計測分析技術グループ
- 導入年度
- 2024
- 型番
- SmartLab
- 製造者
- 株式会社リガク
- 対応試験規格
- 備考
粉末試料はガラス試料板やシリコン製無反射試料板に充填して測定します。
・ガラス試料板：試料充填部 （例）20mm x 20mm x 0.5mm
塊状試料は試料台に置いたときに測定面が平面である必要があります。
・最大試料サイズ：直径100mm以内、高さ20mm以下
※試料のサイズや形状については事前にご相談ください。
薄膜試料のインプレーン測定、ロッキングカーブ測定、X線反射率測定（XRR）はできません。
グローブボックスと気密試料ホルダにより大気曝露を抑えた測定も可能です。
■使い方
■TIRI NEWS記事
料金表
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|---|---|---|---|---|
| 中小 | 一般 | |||
| 依頼試験 | （25）エックス線回折装置によるもの 広角ゴニオメーターによるもの [1試料1時間につき] | T637111 | 10,700円 | 18,740円 |
| 依頼試験 | （25）エックス線回折装置によるもの 広角ゴニオメーターによるもの（同一試料の追加） [1時間につき] | T637112 | 620円 | 1,260円 |
| 依頼試験 | （25）エックス線回折装置によるもの 試料作製 気密試料ホルダーを用いるもの [1試料につき] | T63721S | 4,320円 | 6,890円 |
03-5530-2646
