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国内初となる「幾何偏差」・「最小二乗直径」のJCSS校正証明書発行を開始!― 自動車・航空機産業など高精度な部品製造に貢献 ―
公開日:2024年4月15日 最終更新日:2024年9月6日
都産技研(地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター)は、精密に形状を計測する装置の検査で使用する座標測定器用ゲージについて、「幾何偏差」「最小二乗直径」における国内初(※1)の認定を受け、2024年4月よりJCSS校正証明書発行を開始しました。 従来から対応している測定機器の寸法検査のみならず、平面度や真球度など「幾何偏差」についてもJCSS校正証明書が発行され、品質や信頼性を証明することができます。
(※1)都産技研調べ
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