【本部・計測分析技術グループ】集束イオンビーム（FIB）-走査電子顕微鏡（SEM）複合装置　試験受付停止のお知らせ

公開日：2025年7月28日最終更新日：2025年7月29日

下記装置について、装置更新に伴い、依頼試験の受付を終了いたします。
長い間ご利用いただき、ありがとうございました。

更新後の試験受付については詳細が確定し次第、都産技研ホームページ上でお知らせいたします。
ご迷惑をおかけし大変申し訳ございません。