再開 本部

静電気障害試験器 [実証試験技術G]と半導体デバイス静電気試験機 [実証試験技術G]機器利用再開のお知らせ

公開日:2026年2月10日 最終更新日:2026年2月12日

保守校正点検作業が終了したため、静電気障害試験器 [実証試験技術G]と半導体デバイス静電気試験機[実証試験技術G]【機器・設備名】を用いた機器利用を2026年2月13日より再開いたします。
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