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高周波

印刷用ページを表示する 更新日:2019年1月31日更新

電磁環境両立性(EMC)技術、電子回路・機器の設計・試作等に関する試験・研究・相談を行っています。

主な設備・機器

※依頼試験のご利用方法・ご利用料金は、依頼試験ページにてご確認ください。ご利用にあたっては、依頼試験ページ内「依頼試験約款(PDF)」をご確認ください。

※機器利用のご利用方法・ご利用料金は、機器利用ページにてご確認ください。ご利用にあたっては、機器利用ページ内「機器利用約款(PDF)」をご確認ください。

EMC試験

ご予約方法

お電話での日程調整後、予約表を電子メールにて送信ください。予約表の書式と送信先は下表のとおりです(一部の設備は予約表の対象外)。

EMC予約
項目依頼試験機器利用
PDFWORDPDFWORD
書式ver1901iraipdf.pdf [PDFファイル/369KB]ver1901iraiword.docx [Wordファイル/668KB]ver1901kikipdf.pdf [PDFファイル/358KB]ver1901kikiword.docx [Wordファイル/668KB]
送信先aomi_emc@iri-tokyo.jp

 

設備紹介

EMC設備
設備依頼試験機器利用説明
3m法電波暗室--電磁波的な半無響室(5面の電波暗室)
放射エミッション測定MHz帯電子機器から空間に放射される不要な電波の測定
GHz帯×
雑音端子電圧測定LISN電子機器から電源ケーブルを伝わって放出されるノイズの測定
プローブ×
雑音電力測定電子機器のノイズを電源ケーブルに吸収クランプ法を用いて測定
放射イミュニティ試験電子機器がノイズに対してどの程度の耐性をもつか調べる試験
高調波電流測定×電子機器から商用電源系統に流入する高調波電流の測定
防音シールド室×電磁波的な遮蔽室。ノイズ対策を低コストで効率的に実施。EMCノイズ対策 [PDFファイル/265KB]

アンテナ評価

アンテナ評価用設備
設備依頼試験機器利用説明
アンテナ室×電磁波的な無響室(6面の電波暗室)
マイクロ波帯アンテナ測定システム(3 GHz未満)×アンテナの利得, 放射パターン, VSWRなどを評価
マイクロ波帯アンテナ測定システム(50 GHz未満)×
ミリ波帯アンテナ測定システム(75 GHz未満)×

周波数ドメイン測定

ネットワークアナライザ

ネットワークアナライザ設備
設備型式周波数依頼試験機器利用説明
ネットワークアナライザE5071C9 kHz~6.5 GHz×sパラメータ測定
マイクロ波帯ベクトルネットワークアナライザN5222A10 MHz~26.5 GHz×マイクロ波帯のsパラメータ測定
ミリ波帯ベクトルネットワークアナライザN5247A10 MHz~67 GHz×ミリ波帯のsパラメータ測定
75 ohmネットワークアナライザE5062A300 kHz~3 GHz×75Ω系のsパラメータ測定
スカラーネットワークアナライザ4395A10 Hz~500 MHz×ネットワーク/スペクトラム/インピーダンスアナライザ
4396B100 kHz~1.8 GHz×

 

スペクトラムアナライザ

スペクトラムアナライザ設備
設備型式周波数依頼試験機器利用説明
シグナルアナライザN9010A9 kHz~26.5 GHz×高度な変調解析も可能
位相雑音測定装置N9030A3 Hz~13.6 GHz×位相雑音測定オプション(N9068A)を搭載
スペクトラムアナライザ4395A10 Hz~500 MHz×ネットワーク/スペクトラム/インピーダンスアナライザ
4396B2 Hz~1.8 GHz×
N9340A100 kHz~3 GHz×

ハンドヘルド型RFスペクトラムアナライザ

 

インピーダンスアナライザ

インピーダンスアナライザ設備
設備型式周波数依頼試験機器利用説明
インピーダンスアナライザ4294A40 Hz~110 MHz×インピーダンス測定 [PDFファイル/395KB]
4194A100 Hz~40 MHz×ゲイン・フェーズアナライザ(10 Hz ~ 100 MHz)としても利用可
4395A100 kHz~500 MHz×ネットワーク/スペクトラム/インピーダンスアナライザ
4396B100 kHz~1.8 GHz×
LCRメータ4287A1 MH~3 GHz×LCRメータ [PDFファイル/424KB]
E4980A20 Hz~2 MHz×

その他の機器

その他の機器
機器依頼試験機器利用説明
電磁波シールド材評価(KEC法)×KEC法 [PDFファイル/434KB]
電磁波シールド材評価(同軸管法)×同軸管法 [PDFファイル/308KB]
電磁波吸収材評価(マイクロストリップライン法)×MSL法 [PDFファイル/346KB]
半導体パラメータアナライザ×デバイス、材料、半導体、パッシブ/アクティブコンポーネントなどの電気特性評価
タイムドメイン測定器(TDR)×距離方向のインピーダンス測定
プリント配線板試作装置×プリント基板の試作

この他にも様々な設備・機器があります。ご利用、ご質問などお気軽にご相談下さい。

研究

過去の主な研究

  • 90 GHz帯アプリケーション用周波数変換器の開発(平成27年度 基盤研究)
  • IEEE 802.11ad評価システム用アップコンバータの製品化の為のプロトタイプ化(平成27年度 共同研究)
  • オシロスコープへ接続する超広帯域ミリ波ハーモニック・ミキサーの製品化(平成26年度 共同研究)
  • Xバンドレーダ用入力制限器の開発(平成25年度 共同研究)
  • 呼吸・心拍の非接触モニタリングシステムの開発(平成23年度,24年度,25年度 都市課題解決のための技術戦略プログラム)
  • セラミックスを用いたガス電子増幅器用孔 あき電極の開発(平成26年度 共同研究)

相談

  • EMCに関する規格(VCCI、電気用品安全法、CISPR規格等)について知りたい。
  • 製品のノイズ対策、測定法に関して知りたい。
  • 電子回路・機器を試作してみたい。
  • 電子回路・機器の信頼性試験や環境試験について知りたい。

 

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