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長さに関するJCSS試験サービス

印刷用ページを表示する 更新日:2018年3月26日更新

(地独)東京都立産業技術研究センターは、長さの区分で国際MRA対応のJCSS計量法校正事業登録制度(外部リンク)の登録認定を平成27年度6月12日に受けており、ILAC MRA付きJCSS認定シンボルの入った校正証明書を発行することができます。発行されるJCSS校正証明書は、ILACに加盟する世界中の国々で有効です。

認定範囲

認定の範囲
校正手法の区分と呼称種類校正範囲最高測定能力
(信頼の水準約95%)

一次元寸法測定器

ノギス600 mm 以下0.02 mm
マイクロメータ25 mm 以下0.5 μm
25 mm 超 100 mm 以下2 μm
ダイヤルゲージ5 mm 以下0.7 μm
5 mm 超 50.8 mm 以下1.6 μm
50.8 mm 超 100 mm 以下2.4 μm
てこ式ダイヤルゲージ1.6 mm 以下2 μm
シリンダゲージ6 mm 以上 400 mm 以下1.3 μm
デプスゲージ300 mm 以下0.02 mm
ハイトゲージ1000 mm 以下0.014 mm
ダイヤルゲージ校正器25 mm 以下0.3 μm
伸び計校正器25 mm 以下0.3 μm
25 mm 超 100 mm 以下0.6 μm
ブロックゲージ
(比較測定法による)
0.5 mm 以上 100 mm 以下0.14 μm
100 mm 超 250 mm 以下0.28 μm
各種長さ測定用校正器で測定
面が平面であるもの
(比較測定法による)
310 mm 以下0.6 μm
310 mm 超 610 mm 以下0.8 μm
610 mm 超 1010 mm 以下1.1 μm
リングゲージ10 mm 以上 200 mm 以下0.5 μm
プラグゲージ1 mm 以上 200 mm 以下0.6 μm
形状測定器座標測定機用ゲージ310 mm 以下0.6 μm
310 mm 超 1010 mm 以下0.7 μm

試験料金

  • 試験項目をクリックすると、料金がご確認いただけます。
  • 中小企業は、一般料金から減免制度により中小企業料金でご利用いただけます。
試験料金
試験項目単位
2.1.1.長さ測定
(測定器具の器差測定)
ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以下1試料につき
ブロックゲージの校正(比較校正) 250mm以上1試料につき
リングゲージ・プラグゲージの校正1試料につき

2試料目以降

1試料につき
ダイヤルゲージの校正(JCSS)1試料につき
ダイヤルゲージ校正器の校正 25mm以下(JCSS)1試料につき
てこ式のダイヤルゲージの校正 1.6mm以下(JCSS)1試料につき
ノギスの校正 600mm以下(JCSS)1試料につき5箇所まで

1試料につき5箇所目以降

1箇所につき
マイクロメータの校正 100mm以下(JCSS)1試料につき3箇所まで

1試料につき3箇所目以降

1箇所につき
シリンダゲージの校正 6mm以上400mm以下(JCSS)1試料につき
デプスゲージの校正 300mm以下(JCSS)1試料につき5箇所まで

1試料につき5箇所目以降

1箇所につき
ハイトゲージの校正 1000mm以下(JCSS)1試料につき10箇所まで

1試料につき10箇所目以降

1箇所につき
伸び計ゲージ校正器の校正 100mm以下(JCSS)1箇所につき
座標測定機用ゲージの校正1試料1測定につき

同一試料2測定目以降

1測定につき
13.1 成績証明書の交付
13.1.3. JCSS校正証明書の交付1通につき
13.1.4. JCSS校正証明書(副本)の交付1通につき
13.1.5 JCSS英文校正証明書(副本)の交付1通につき

校正証明書(見本)

校正証明書1校正証明書2校正証明書(見本) [PDFファイル/294KB]

 

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