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Xeフラッシュアナライザー

印刷用ページを表示する 更新日:2017年2月7日更新
設備利用
機器利用
分類
A:分析・評価:物性測定
対象
金属
プラスチック
仕様

測定温度範囲:室温から300℃

用途
熱拡散率の測定
製造者
ネッチ・ジャパン株式会社
型番
LFA447 Nanoflash
導入年度
2009
設置場所
本部
グループ
実証試験セクター
試験規格対応
  • JIS A1412-2
  • JIS R1611
  • ASTM E1461
備考

ライセンス制度対象機器
試験条件等に関しては事前の打合せが必要となります。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
機器利用 9.23. Xeフラッシュアナライザー(ライセンス制度対象機器) ※ライセンス制度と別に事前講習会参加が必要 Xeフラッシュアナライザー(基本料金)[最初の1時間] 9P1 2,118円 3,733円

キセノンフラッシュアナライザー

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  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
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  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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