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Xeフラッシュアナライザー

印刷用ページを表示する 更新日:2021年8月6日更新
設備利用
機器利用
分類
A:分析・評価:物性測定
対象
金属
プラスチック
仕様

測定温度範囲:室温から300℃

用途
熱拡散率の測定
製造者
ネッチ・ジャパン株式会社
型番
LFA447 Nanoflash
導入年度
2009
設置場所
本部
グループ
組織変更に伴う更新作業中となります。
試験規格対応
  • JIS A1412-2
  • JIS R1611
  • ASTM E1461
備考

ライセンス制度対象機器
試験条件等に関しては事前の打合せが必要となります。

料金表については料金改定に伴う更新作業中となります。
ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
ご利用料金につきましては、機器利用一覧(料金表)依頼試験一覧(料金表)をご覧ください。

キセノンフラッシュアナライザー

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  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
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