ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 機器・設備検索 > 走査電子顕微鏡[先端材料開発S-3]

走査電子顕微鏡[先端材料開発S-3]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

分解能:3nm(2次電子像、高真空モード)
倍率:5倍 から 30万倍 まで(実用倍率数万倍程度まで)
分析検出器:エネルギー分散型(SD検出器、液体窒素レスタイプ)
検出可能元素:5B から 92U まで

用途
微小部分観察、元素分析
製造者
日本電子株式会社
型番
JSM-6610LA、JED-2300
導入年度
2012
設置場所
本部
グループ
先端材料開発セクター
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの エネルギ分散形分光器(定性分析)[1測定点につき] 32B31 10,080円 11,828円
依頼試験 3.2.11. 走査型電子顕微鏡によるもの エネルギ分散形分光器(線分析または面分析)[1測定点につき] 32B32 19,337円 23,554円

走査電子顕微鏡3

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

ページの先頭へ