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飛行時間型二次イオン質量分析装置
印刷用ページを表示する 更新日：2016年12月19日更新
- 分類
- A：分析・評価：機器分析
- 対象
- 仕様
一次イオン源：Gaイオン
試料サイズ：原則としてW50×D50×H20 mm以下- 用途
- 試料の極表面（数nm）に存在する物質の含有元素や化学構造が分かります。また、面分析によって化学種ごとの分布を可視化することができます。
- 製造者
- アルバック・ファイ株式会社
- 型番
- TRIFT III
- 導入年度
- 2011
- 設置場所
- 本部
- グループ
- プロセス技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.24. | 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 1.1. 通常測定 [2時間以内] | T636111 | 27,720円 | 52,270円 |
| 依頼試験 | 6.1.24. | 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 1.1. 通常測定 （同一試験の追加） [30分につき] | T636112 | 4,240円 | 8,080円 |
| 依頼試験 | 6.1.24. | 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 2.1. 追加解析 [30分につき] | T636211 | 1,320円 | 2,910円 |
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