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飛行時間型二次イオン質量分析装置

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験その他
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
 
仕様

一次イオン源:Gaイオン
試料サイズ:原則としてW50×D50×H20 mm以下

用途
試料の極表面(数nm)に存在する物質の含有元素や化学構造が分かります。また、面分析によって化学種ごとの分布を可視化することができます。
製造者
アルバック・ファイ株式会社
型番
TRIFT III
導入年度
2011
設置場所
本部
グループ
プロセス技術グループ
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.24. 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 1.1. 通常測定 [2時間以内] T636111 27,720円 51,120円
依頼試験 6.1.24. 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 1.1. 通常測定 (同一試験の追加) [30分につき] T636112 4,240円 7,630円
依頼試験 6.1.24. 飛行時間型二次イオン質量分析装置によるもの 2.1. 追加解析 [30分につき] T636211 1,320円 2,660円

飛行時間型二次イオン質量分析装置

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