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走査電子顕微鏡 [計測分析技術G-2]
印刷用ページを表示する 更新日：2016年12月19日更新
- 分類
- C：顕微鏡：走査電子顕微鏡
- 対象
- 仕様
ショットキー電界放出電子銃、イオン銃（Ga）
高真空・低真空・ESEM観察（電子線）
エネルギー分散型X線分光器、波長分散型X線分光器付属- 用途
- 微小部分の加工、観察および分析
- 製造者
- FEI COMPANY
- 型番
- Quanta 3D FEG
- 導入年度
- 2011
- 設置場所
- 本部
- グループ
- 計測分析技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 1.1. 像の観察 [1試料につき] | T632111 | 12,460円 | 18,100円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 1.2. 写真撮影 [1撮影につき] | T632121 | 2,890円 | 4,410円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 3.1. 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] | T632211 | 9,100円 | 13,610円 |
| 依頼試験 | 6.1.20. | 走査電子顕微鏡によるもの 4.1. 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] | T632311 | 14,960円 | 26,000円 |
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