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走査電子顕微鏡 [計測分析技術G-2]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

ショットキー電界放出電子銃、イオン銃(Ga)
高真空・低真空・ESEM観察(電子線)
エネルギー分散型X線分光器、波長分散型X線分光器付属

用途
微小部分の加工、観察および分析
製造者
FEI COMPANY
型番
Quanta 3D FEG
導入年度
2011
設置場所
本部
グループ
計測分析技術グループ
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.1. 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 16,270円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 1.2. 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,030円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 3.1. 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 12,650円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 4.1. 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 24,580円

走査電子顕微鏡2

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