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走査電子顕微鏡の基礎

印刷用ページを表示する 公開開始日時:2020年9月23日更新
状態
募集あるいは開催を終了した研修
種別
講習会
概要
 走査電子顕微鏡は、観察対象物の表面に細く絞った電子線を照射し、そこから、反射または発生する電子を検出することによって微細な表面構造を観察する装置です。さらに、エネルギー分散型X線分析装置を備えた装置を用いると、観察場所の元素情報も得ることができます。
 本講習会では、走査電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分析装置の測定原理や試料の作製方法、測定時の留意点など、基礎的な内容について講義を行います。その後、講義内容の理解をより深めるため走査電子顕微鏡を用いた観察・分析操作の実習を受けていただきます。
 走査電子顕微鏡による観察・元素分析の入門あるいは再確認の場として、これから利用しようと興味をお持ちの方、既に利用されている方など、皆様のご参加をお待ちしています。

【新型コロナウイルス感染防止対策へのご協力のお願い】
ご来場の際には必ずマスクの着用および弊センター備え付け消毒液での手指消毒、検温のご協力をお願いします。

開催日時

日付
2020年10月29日木曜日
時間
10時00分から17時00分
日数
1

会場

会場
本部
住所
〒135-0064東京都江東区青海2-4-10 
電話番号
03-5530-2308
ファックス番号
:03-5530-2318

募集要項

定員
4名
受講料(消費税込み)
4,600円
応募締切
2020年10月22日木曜日
お申込・お問い合わせ
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
技術経営支援室 技術振興係
〒135-0064東京都江東区青海2-4-10
TEL:03-5530-2308 FAX:03-5530-2318
申込書

 

 

開催案内

開催案内

備考
定員に達したため、予定前に募集を締め切らせていただきました。

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