**・機器利用**
装置名称	特徴
恒温恒湿槽　前面ガラス大型A・B	前面がガラス張りの恒温恒湿槽です。手を入れて操作をしながらの温湿度試験が可能です。装置サイズは大型と中型がございます。
恒温恒湿槽　前面ガラス中型A・B
恒温恒湿槽　低温度対応　大型A・B	低温-60℃まで対応可能な恒温恒湿槽です。
恒温恒湿槽　小型A・B・C・D・F	高温+130℃まで対応可能な小型の恒温恒湿槽です。
恒温槽　温度槽	温度制御のみの恒温槽です。
恒温恒湿室　A・B	約2畳の部屋タイプの恒温恒湿室です。大型の試験品に利用可能です。換気機能に劣るため、試験中の入室は原則ご遠慮いただいています。
恒温恒湿槽　低湿度槽	低温低湿度試験が可能な恒温恒湿槽です。

※高温槽は2019年3月、マッフル炉は2019年9月にリニューアルに伴い機器利用を終了しました。

「恒温恒湿槽」YouTubeにて公開中です。
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（外部リンク）

特殊な温度環境試験

**・機器利用**
装置名称	特徴
ハイパワー恒温恒湿槽	一般的な恒温槽にくらべ、急な温度勾配設定が可能な恒温恒湿槽です。温度勾配は、最速15℃／分で運転が可能となっています。また、高速な温度制御とともに、湿度制御も行うことができます。 IECなどの規格試験や自動車関連規格に対応した試験が可能です。
急速温度変化恒温槽	一般的な恒温槽にくらべ、急な温度勾配設定が可能な恒温槽です。 ‐50℃から+130℃の範囲において最速15℃/分の運転が可能です。 IECなどの規格試験に対応した試験が可能です。
加速寿命試験機	大気圧以上の加圧や温度・湿度を加え、評価時間の短縮と解析等を目的とした試験装置で、不飽和や飽和の制御が可能です。
結露サイクル試験機	試験品を結露状態にして不動作の確認や表面状態の変化等を再現する試験機です。結露時間の調節、プログラム運転が可能です。
減圧恒温槽A・B	航空機や高所における減圧環境を模擬し、航空機搭載部品や携帯電子機器等の信頼性評価に使用可能な減圧恒温槽です。電源端子、信号端子(同軸N型)、ケーブル孔があります。ケーブル孔使用の場合、シーリングのため事前準備が必要です。 [試験規格対応]　・RTCA DO-160D 　・ JIS W0812　　・ IEC 60068-2-13 ・IEC 60068-2-40　・ IEC 60068-2-41 その他・JIS C60068-2-13　・JIS C60068-2-40　・JIS C60068-2-41　　　　・MIL STD-810G-method500

冷熱衝撃試験

**・機器利用**
装置名称	特徴
冷熱衝撃試験機　大型A・B	急激に温度を変化させ、試験品に熱衝撃を与える装置です。（三槽式）条件により、試験の途中に自動で「霜取り運転」が入ります。媒体は気体(空気)のため、温度の切り替わりには5分ほどのタイムラグが生じる可能性があります。
冷熱衝撃試験機　中型A・B	急激に温度を変化させ、試験品に熱衝撃を与える装置です。（三槽式）条件により、試験の途中に自動で「霜取り運転」が入ります。媒体は気体(空気)のため、温度の切り替わりには5分ほどのタイムラグが生じる可能性があります。
冷熱衝撃試験機　小型	急激に温度を変化させ、試験品に熱衝撃を与える装置です。（二槽式）条件により、試験の途中に自動で「霜取り運転」が入ります。媒体は気体(空気)のため、温度の切り替わりには5分ほどのタイムラグが生じる可能性があります。

「冷熱衝撃試験機」YouTubeにて公開中です。
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（外部リンク）

振動・落下衝撃試験

・**機器利用**
装置名称	特徴
恒温振動試験機（恒温恒湿槽付）	主に電子機器等の振動試験で、IEC、ISO、JIS、MIL、その他各種規格試験に対応した振動試験機です。同時に、温湿度を変化させながら加振が可能になっています。振動試験機のみの利用も可能です。共振周波数の測定、地震を想定した振動は与えられません。
振動試験機	主に電子機器等の振動試験、JISやIEC等の規格に対応しています。垂直加振のみの試験が可能です。共振周波数の測定、地震を想定した振動は与えられません。試験品重量等により実施できない条件がございますのでご相談ください。
落下衝撃試験機	主に電子機器の落下衝撃試験、製品や部品に衝撃加速度を加え、所定の性能を確認する試験装置です。なお自由落下はできません。
瞬断検出器	電子機器に振動や落下衝撃が加わった際の瞬断の有無を確認するための装置です。

EMC試験

・**機器利用**
装置名称	特徴
静電気障害試験器	電子機器の静電気耐性試験、気中放電・接触放電が可能です。試験規格対応　・IEC 61000-4-2
ファスト・トランジェント／バースト試験器	過渡ノイズによる試験品への影響を確認する試験装置です。試験規格対応　・IEC 61000-4-4
雷サージ試験器	電子部品、電子機器の誘導雷イミュニティ試験装置です。試験規格対応　・IEC 61000-4-5
瞬時停電試験器	電子・電気機器の電圧変動及び瞬停のイミュニティー試験装置です。試験規格対応　・IEC 61000-4-11
耐電圧試験器	主に電気・電子製品の絶縁性評価のため、高電圧を短時間印加する試験装置です。試験規格対応　・IEC J60950-1（情報機器）　　・JIS C6950-1：（1012)
高調波・フリッカ試験器	電子機器の電源高調波測定及びフリッカ試験用の試験器です。試験規格対応　・IEC 61000-3-11　　・IEC 61000-3-12 解析対応規格　・IEC 61000-3-2　　・IEC 61000-3-3

注）IEC規格では試験環境が規定されておりますが、電気試験室は個別空調等による温湿度の管理はしておりません。
　　また、試験品の電源がDC（直流）の場合、ノイズにより電源ごと故障することがあります。このため、電源を機器利用いただくことはできません。お客様自身で電源をご用意ください。

その他

・**機器利用**
装置名称	特徴
温度記録計　A・B	熱電対を用いた温度記録が可能です。（T型熱電対は無料貸し出しがございます）データはCD-Rへ保存。
電源装置	直流または交流でご使用できます。ご利用されたい電圧値、電流値および相数をご相談ください。
オシロスコープ	500MHzまで測定可能です。波形観測ができます。
交流安定化電源	各種の周波数に対応した交流電源の供給用です。

※デジタルマイクロスコープ
本部では計測分析技術グループもしくはバイオ技術グループに機器がございますので
お問い合せください。
※レーザーマイクロスコープ
担当部署が計測分析技術グループに変更となりましたのでお問い合わせください。

この他にも様々な設備・機器があります。ご利用、ご質問などお気軽にご相談下さい。

オンライン予約について

オンライン予約は現在休止しております。ご予約はお電話にて環境試験室（直通：03-5530-2190）へお問い合わせください。

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機器利用の予約
環境試験に関わるJIS規格やIEC規格に準拠した各試験項目の選定やその実施条件等
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