ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 機器・設備検索 > X線光電子分光分析装置[城南支所]

X線光電子分光分析装置[城南支所]

印刷用ページを表示する 更新日:2016年12月19日更新
設備利用
依頼試験
分類
A:分析・評価:機器分析
対象
 
仕様

励起X線:Al Kα線
X線スポットサイズ:9μm から 100μm まで
エッチング:アルゴンイオン銃
試料サイズ:W75×D75×H20mm以内

用途
試料の極表面(数nm)の元素の種類やその化学結合状態が判別できます。また、深さ方向の元素分布を知ることができます。
製造者
アルバック・ファイ
型番
Quantera
導入年度
2012
設置場所
城南支所
グループ
城南支所
試験規格対応
備考
設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの ワイドスキャン測定 [1測定につき] T634111 17,900円 34,950円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの ナロースキャン測定 [1試料1時間につき] T634211 18,950円 35,060円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの ナロースキャン測定 (同一試料の追加) [1時間につき] T634212 6,140円 12,280円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 [1試料1時間につき] T634311 22,060円 40,530円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 (同一試料の追加) [1時間につき] T634312 6,140円 12,280円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 面分析又は線分析 [1試料1時間につき] T634411 18,950円 34,970円
依頼試験 6.1.22. エックス線光電子分光分析装置によるもの 面分析又は線分析 (同一試料の追加) [1時間につき] T634412 7,260円 14,540円

X線光電子分光分析装置

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

ページの先頭へ